摘要

《水晶学报》。(2011).A类67,C407型

外延a面GaN层缺陷的确定

M.Barchuk先生,V.霍尔,S.Layarev公司和S.Bauer公司

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以二维探测器为低延迟工具的三维互易空间映射研究生长参数对半极GaN缺陷的影响

S.Bauer公司,S.拉扎列夫,M.Bauer先生,T.Meisch公司,M.Caliebe先生,V.霍尔,F.舒尔茨和T.Baumbach公司

建立了一种基于X射线衍射和三维互易空间映射的快速无损缺陷评估和量化方法。

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非晶多层膜中钴纳米晶的结构研究

S.伯恩斯托夫,V.霍尔,J.恩德斯,V.淡水河谷,J.索博塔,Z.Siketic公司,I.博格达诺维奇-拉多维奇,M.布尔扬和G.德拉齐克

周期性Co/SiO₂采用掠入射小角X射线散射、X射线衍射和飞行时间弹性反冲检测分析方法研究了磁控溅射沉积的多层膜。在沉积过程中，Co纳米颗粒被自发地产生和排列，形成三维周期性阵列。

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掠入射小角X射线散射：在量子点晶格研究中的应用

M.布尔扬,N.字根,S.伯恩斯托夫,G.德拉齐克,I.博格达诺维奇-拉多维奇和V.霍尔

描述了三维量子点晶格掠入射小角X射线散射（GISAXS）的模型。

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含缺陷半导体纳米晶的晶体结构——X射线衍射研究

M.布尔扬,U.V.德斯尼卡,N.字根,G.德拉齐克,Z.Matej公司,V.淡水河谷和V.霍尔

提出了一种利用德拜函数方法精确计算含平面缺陷纳米晶X射线衍射强度的方法。

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非晶态氧化铝基体中Ge量子点三维各向异性晶格的生长

M.布尔扬,O.Roshchupkina,A.桑提克,V.霍尔,C.贝茨,A.穆克利奇,L.Horák先生,V.淡水河谷,N.字根,S.伯恩斯托夫和J.格伦泽

自组装过程表明，在非晶态氧化铝基体中形成规则有序Ge量子点的各向异性晶格。所制备的材料显示出强烈的电输运各向异性。

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基于GISAXS的量子点晶格结构表征：模型和软件包Gisax工作室

M.布尔扬,I.梅克特罗维奇,M.卡卢西奇,I.博格达诺维奇-拉多维奇,D.梅克特罗维奇,杰西诺维奇先生,S.伯恩斯托夫,N.字根和V.神圣

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超晶格形态的生长演化

O.卡哈,V.霍尔和K·E·巴斯勒

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组合X射线散射法研究超低能离子注入硅的结构特性

L.卡佩罗,T.H.梅茨格,V.霍尔,M.Servidori先生和A.马拉基亚

在这项工作中，提出了一种用于表征超低能注入硅晶片的X射线散射方法的组合。掠入射X射线散射对限制在薄晶层内的残余缺陷的性质很敏感；X射线衍射提供晶格应变的深度分布，镜面反射率提供电子密度分布。

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L2的测定₁ 与Heusler合金Ni中B2相含量₂MnGa和Co₂FeGe公司_0.5镓_0.5带X射线衍射

P.塞杰佩克,D.科拉尔,E.Duverger-Nédellec公司,L.Horák先生和V.霍尔

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镍结构的系统研究₂高分辨率X射线衍射互易空间映射MnGa单晶

P.塞杰佩克,V.霍尔和O.赫茨科

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高分辨率X射线衍射和成像专题介绍

V.查马尔和V.霍尔

最新虚拟专刊应用晶体学杂志重点介绍了2016年9月在捷克共和国布尔诺举行的第13届高分辨率X射线衍射和成像双年展（XTOP 2016）的一些亮点。

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X射线衍射揭示了极度弯曲的单根纳米线的应变量和均匀性

A.达夫蒂安,D.克里格纳,V.霍尔,A.阿尔哈桑,R·B·刘易斯,S.McDermott公司,L.Geelhaar先生,D.巴赫拉米,T.安朱,Z.Ren先生,C.里希特,D.诺维科夫,J.米勒,B.布茨和U.Pietsch公司

单个纳米线的弯曲半径和应变是使用纳米聚焦光束的X射线衍射和强弯曲晶体的专用衍射理论确定的。电子显微镜研究证实了这一结果。

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纤锌矿型GaAs纳米线中单个层错的纳米束X射线衍射表征

A.达夫蒂安,S.莱曼,D.克里格纳,R.R.扎马尼,K·A·迪克,D.巴赫拉米,A.阿勒·哈桑,S.J.Leake公司,U.Pietsch公司和V.霍尔

应用同步辐射相干纳米束X射线衍射方法研究了GaAs单根纳米线中层错的类型、数量和层错之间的精确距离。

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图形处理单元上的快速德拜方程计算–用于计算和拟合纳米颗粒真实结构的GPU

M.多皮塔,L.Horák先生,V.霍尔和M.鲁道夫

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α的结构研究₁₂硅锗上部结构

T.Etzelstorfer公司,M.R.Ahmadpor Monazam先生,S.Cecchi公司,D.克里格纳,D.克拉什蒂纳,E.加蒂,E.格里利,N.罗斯曼,S.查特吉,V.霍尔,F.佩佐利,G.伊塞拉和J.斯坦格尔

给出了由单层薄膜组成的可能直接带隙Si/Ge超晶格的X射线衍射结构分析结果，以及理论预测和首次光学测量。

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亚稳态β钛合金中α相片层取向关系

P.哈库巴,J.Šmilauerová和V.霍尔

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晶体截断棒X射线散射：精确动力学计算

V.霍尔和P.F.费斯特

本文提出了一种精确计算晶体截断棒X射线衍射强度的方法。

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InGaN层中局部化学不均匀性的X射线散射

V.霍尔,克里希科先生和M.莱斯钦斯基

本文对外延InGaN层中In浓度的局部不均匀性引起的X射线漫散射进行了理论研究。

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高能双晶X射线衍射

V.霍尔,S.Cummings公司和M.哈特

高能双晶X射线衍射以前只在放射源上得到证实。非常低的吸收、无消光和高分辨率的优点在各种实验中都得到了明确的证明。这里报道的实验是首次使用高能X射线管进行的，该X射线管可提供高达160keV的辐射。通过双晶摇摆曲线研究了硅、锗和氟化钙在非常厚的样品中的镶嵌扩展。在10 mm厚的萤石、25 mm厚的锗和硅中测量了从1’’弧到几分钟弧的镶嵌扩展。大块晶体材料的常规无损表征是可能的，当高能存储环在电磁光谱的这一部分提供明亮的同步辐射时，许多新的机会将变得可用。

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外延a面GaN层缺陷的确定

以二维探测器为低延迟工具的三维互易空间映射研究生长参数对半极GaN缺陷的影响

非晶多层膜中钴纳米晶的结构研究

掠入射小角X射线散射：在量子点晶格研究中的应用

含缺陷半导体纳米晶的晶体结构——X射线衍射研究

非晶态氧化铝基体中Ge量子点三维各向异性晶格的生长

基于GISAXS的量子点晶格结构表征：模型和软件包Gisax工作室

超晶格形态的生长演化

组合X射线散射法研究超低能离子注入硅的结构特性

L2的测定₁ 与Heusler合金Ni中B2相含量₂MnGa和Co₂FeGe公司_0.5镓_0.5带X射线衍射

镍结构的系统研究₂高分辨率X射线衍射互易空间映射MnGa单晶

高分辨率X射线衍射和成像专题介绍

X射线衍射揭示了极度弯曲的单根纳米线的应变量和均匀性

纤锌矿型GaAs纳米线中单个层错的纳米束X射线衍射表征

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α的结构研究₁₂硅锗上部结构

亚稳态β钛合金中α相片层取向关系

晶体截断棒X射线散射：精确动力学计算

InGaN层中局部化学不均匀性的X射线散射

高能双晶X射线衍射