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为海兹曼(J.J.Heizmann)发现了13处引文。
海兹曼·J·克利克共有14篇文章
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海兹曼,J.J。
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J.应用。
克里斯特。
(1977).
10
,
77-78
https://doi.org/10.107/S0021889877012941
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地形学中心与基督自然奇石和镁铁石之间的关系问题基础温度
P.贝克尔
,
J.J.海兹曼
et(等)
R.巴罗
赤铁矿上形成的磁铁矿的两个新取向
2
哦
三
通过X射线织构分析显示了低温还原后的单晶。
这些是:方向
C类
, (113)
M(M)
||(00.1)
H(H)
, (110)
M(M)
||(10.0)
H(H)
;
方位
D类
, (115)
M(M)
||(00.1)
H(H)
, (110)
M(M)
||(10.0)
H(H)
。
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J.应用。
克里斯特。
(1976).
9
,
347-351
https://doi.org/10.107/S0021889876011461
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快速指数化方法电子衍射图(00.1)x cristaux hexagonaux面弯曲
J.Bessières
,
J.J.海兹曼
et(等)
R.巴罗
描述了一种快速索引从具有三角或六角对称性的材料获得的(00.1)电子衍射图的方法。
当物质已知时,可以确定样品的方位角。
第二张衍射图可以确定未知物质的晶格参数。
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J.应用。
克里斯特。
(1996).
29
,
457-464
https://doi.org/10.107/S0021889896003615
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多相二元合金涂层的X射线衍射定量相分析:在黄铜涂层中的应用
B.波尔
,
A.蒂杜
,
J.J.海兹曼
和
B.造粒机
介绍了多层薄膜相分析在α/β黄铜层中的应用。
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J.应用。
克里斯特。
(1999).
32
,
27-35
https://doi.org/10.107/S0021889898009765
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热扩散过程中二元合金涂层浓度深度分布的X射线衍射研究:在黄铜涂层中的应用
B.波尔
,
A.蒂杜
和
J.J.海兹曼
利用基于X射线衍射线剖面分析的Houska方法,提出了新的数学处理方法来计算扩散获得的薄膜的浓度深度剖面。
报道了黄铜层的浓度深度分布。
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J.应用。
克里斯特。
(1981).
14
,
270-273
https://doi.org/10.107/S0021889881009345
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微晶取向对赤铁矿α-Fe化学反应性的影响
2
哦
三
和磁铁矿Fe
三
哦
4
J.J.海兹曼
,
P.贝克尔
和
R.巴罗
结果表明,赤铁矿α-Fe之间的主要拓扑关系
2
哦
三
和磁铁矿Fe
三
哦
4
在还原和氧化循环期间,可以认为是晶体可逆的。
随着还原和氧化循环次数的增加,两个晶格相互定向的精度降低,晶体定向与氧化和还原速率之间存在相关性。
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J.应用。
克里斯特。
(1986).
19
,
467-472
https://doi.org/10.107/S0021889886088933
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多个X射线极图的同时测量
J.J.海兹曼
和
C.拉鲁埃尔
目前,常规纹理分析受到数据记录所需时间的限制。
描述了一种允许使用多个探测器或位置敏感探测器同时采集多个极点图的方法。
由于同时性,用于一个极点图形的纹理测角仪的运动也同时用于获得其他极点图形。
对于反射和透射测量,解释了完整的几何排列和极图扫描。
对样品的盲区、吸收强度校正和散焦现象进行了讨论。
对于一些示例,将此方法获得的结果与用于测量单极图的常用方法所得结果进行了比较。
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《水晶学报》。
(1984).
A类
40
,
C96-C97型
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钛的氧氧化:钛与金红石型TiO的结构关系
2
L.拉托德
,
D.西奥斯马克
,
G.贝特朗
,
J.J.海兹曼
和
A.瓦登
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克里斯特。
(1992).
25
,
665-673
https://doi.org/10.1107/S021889892004849
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细丝中晶体织构的演变
T.蒙特森
和
J.J.海兹曼
为了准确测量细丝的织构,开发了一种X射线衍射程序,从而可以获得穿过细丝半径的织构变化。
由于X射线只穿透大多数金属的表面,因此对于大型金属丝而言,X射线检查可视为表面检查,但通过细化金属丝,可以获得其半径上的纹理变化。
当直径很小时,X射线可以穿透很大一部分金属丝。
在这些情况下,一种新的技术利用了几个细化程序之间的纹理变化,从而可以准确地了解金属丝表面和芯部之间的纹理差异。
为了说明该程序的应用,给出了175μm钢丝帘线的一些示例。
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J.应用。
克里斯特。
(2001).
34
,
722-729
https://doi.org/10.107/S002188980101384X
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循环应变下CuAlBe形状记忆单晶的正交晶格变形
A.蒂杜
,
A.埃伯哈特
,
B.波尔
,
F.莫罗
和
J.-J.海兹曼
X射线衍射实验证明,X射线方法可以用于评估CuAlBe形状记忆合金的应变诱导疲劳。
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克里斯特。
(1996).
29
,
531-539
https://doi.org/10.107/S0021889896003809
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使用低入射角和Bragg-Brentano纹理测角法进行薄膜研究。
Al和Al/Fe单层和双层的应用
A.蒂兹利奥伊
,
J.Bessières
,
J.J.海兹曼
和
J.F.波波
当在低入射几何中研究薄层的纹理时,描述了强度校正。
这些修正适用于沉积在钢或硅上的铝和铁薄膜或双层。
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(1984).
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40
,
C415型
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使用纹理测角法自动确定一组有限的方向
A.瓦登
和
J.J.海兹曼
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(1997).
30
,
443-448年
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X射线衍射光谱定量纹理分析
Y.D.王
,
L.Zuo(左)
,
梁振达
,
C.拉鲁埃尔
,
A.瓦登
和
J.J.海兹曼
提出了一种从X射线衍射谱直接获得多晶材料取向分布函数的方法。
它使用最大纹理能量假设来减少定量纹理分析所需的衍射数据。
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克里斯特。
(1999).
32
,
404至408
https://doi.org/10.107/S0021889898015271
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根据最大熵原理自然划分方向元素并从单个方向确定ODF
Y.D.Wang先生
,
A.瓦登
,
J.Bessières
和
J.J.海兹曼
提出了一种从单个方向确定方向分布函数(ODF)的新方法。
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