从平均晶格参数变化（均匀应变）和晶格微应变（非均匀应变）的双重角度比较了12个由氢氧化镍低温制备的三种高分裂氧化镍样品。这些样品是具有镶嵌结构的黑色非化学计量NiO，具有相同镶嵌结构的绿色化学计量Ni0，以及由微小的准完美单晶（整体NiO）组成的黑色非化工计量NiO。通过电子显微镜、衍射和X射线衍射推断了这三种氧化物的织构。通过X射线谱线展宽分析获得了晶粒尺寸和微应变值。化学分析得出了化学计量的偏差。研究了均匀应变、非均匀应变、织构和化学计量之间的关系。从结果的比较中可以看出，均匀应变和非均匀应变对化学计量偏差的程度不敏感。不均匀应变主要是由于晶粒的镶嵌结构造成的。与平均晶格参数变化有关的均匀应变似乎与小晶粒尺寸有关。这两个方面与氢氧化物形成氧化物的机理有关。
