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为Fundenberger,J.J.找到了4条引文。

Fundenberger,J.click有4篇文章在这里来看看这些。

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结果1到4,按名称排序:


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本文描述了一个自动标引TEM菊池衍射图案和CBED衍射图案以及确定微晶取向的程序。

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提出了一种新的纹理测角仪控制方法,它取决于被测纹理本身。这种自动自适应控制的先决条件是测量过程中极点强度与定向概率的快速反演,以及不需要恒定步长光栅且适用于锐化纹理的数学反演方法。

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考虑从给定的晶体取向密度函数导出和计算极点密度函数的正问题,表明相应的反问题在数学上不适定。方向密度函数非常不同,谐级数展开的奇偶项也不同,导致极密度函数非常相似。

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离散纹理分析的数学不适定反演问题,以计算定义在G公司SO公司(3) 根据上定义的给定极点密度S公司+\英国广播公司导致了一个列秩不足的线性方程组。针对Sante Fe纹理问题,计算并比较了该系统的特定模型解,这些模型解分别最小化或最大化给定的目标函数,如纹理指数或熵。结果表明,纹理指数的最大化通常不是一种条件鬼校正设备。此外,对于给定的纹理组件,具有极值的特定解决方案0G公司n个0∈ (G公司n个)n个= 1,...N个(欧拉)定向空间分区的G公司进行了计算和讨论。给出了应用正下界0的猜想的数值证据<b条所有定向密度函数(ODF)(f)\可控硅F对于给定的集合是可行的\可控硅P极点密度函数(PDF),对可行ODF的限制0<b条(f)(),G公司,(f)\可控硅F对于给定的最小取向密度或均匀部分,它们的变化会大大减小。最后,证明了这种优化单个纹理分量的方法可以推广到数值确定可行ODF相对于给定集合的变化宽度\可控硅P以及反演问题的离散化。

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