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为Delhez,R.找到了16条引文。

搜索R·德赫兹。世界水晶学家名录

结果1至16,按名称排序:


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本文提出了一个平滑和的框架K(K)自动消除X射线衍射扫描中的α双重波。使用惩罚似然估计进行平滑,而对于双重消除,使用复合链路模型扩展模型。

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结果表明,当执行α2消除X射线衍射线轮廓。提出了两种双波分离公式,其结果优于从布拉格定律微分得到的双波分离。一种公式的重要优点是在sinθ标度上是常数;另一种公式可以作为计算机单色仪的基础。

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α的傅里叶系数的误差1通过α获得的成分2对消除进行了分析研究。计数统计的影响,α的强度比不正确1和α2计算了不正确偶极子分离的分量和。计数统计引起的傅立叶系数的均方误差是谐波数的周期函数,而强度比和双峰分离的误差主要影响第一傅立叶系数。计算机模拟和实验线轮廓的计算证实了结果。α2消元方法假设α的形状完全相同1和α2组件,但这种假设并不完全合理。偏差可能被解释为偶极子分离和强度比中的局部误差。

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Warren-Averach颗粒尺寸和应变分离分析涉及余弦和对数幂级数展开。研究表明,对数级数展开中对高阶项的忽略在较小的应变值下比余弦级数引入了更大的误差,而在较大的应变值下,优势不那么明显。此外,还表明对数的幂级数展开是多余的,因此可以改进Warren-Averbach分析。在通常的实践中,改进方法与原始方法之间的差异很容易为颗粒大小傅里叶系数的10%和均方应变值的30%。

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在实践中,对强度测量范围的截断会引发对线轮廓概念的评估。测量的截断线轮廓可以被视为总强度分布的一部分,该总强度分布在倒置晶格点处或附近达到峰值(方法1),也可以被视为由单个倒置晶格点所限定的成分线轮廓的一部分(方法2)。这样就可以避免线-文件分析中的一些错误概念,并且可以开发出用于推断截断线剖面尾部的方法。根据第一种方法,对线条轮廓进行傅里叶分析意味着对定义在[− ½,+ ½] (表示互惠空间中考虑的节点);第二种方法意味着对在[−∞,+∞]内定义的分量线轮廓进行傅里叶变换。这两种方法都提供了尺寸展宽的准确描述,而组合尺寸和应变展宽只能在第一种方法中进行充分评估。给出了获得平均晶粒尺寸截断修正值的简单方法。

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《水晶学报》。(1981年)。A类37,153元
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提出了一种方法,利用对未覆盖衬底的单独测量,从存在薄层和衬底重叠峰的衍射图案中去除衬底峰。结果表明,该方法对工具钢基板上沉积的TiN层产生了良好的效果。

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提出了由立方弹性各向异性晶粒组成的多晶材料衍射应力分析的新方法,并与现有方法进行了比较。新方法不需要衍射弹性常数。

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提出了一种计算位错试样衍射线轮廓的方法。将计算结果与分析模型的结果进行比较。

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综述了用于线轮廓分析的积分宽度方法,包括最近针对位错应变展宽的具体情况提出的Williamson-Hall方法的改进。传统和改进的Williamson-Hall方法证实了其优点,可以快速概述加宽效应和可能的主要原因;然而,定量结果通常不可靠。

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提出了一种解释Warren-Averbach均方应变曲线的方法。如果将多项式拟合到这种均方应变曲线上,则该多项式的系数可以简单地表示为垂直于衍射面方向的均方局部应变和该应变的均方导数。该方法被应用于等时恢复退火铝的一系列X射线衍射线展宽测量。不同退火后观察到的平均平方导数的变化被解释为试样中位错排列的变化。通过该方法获得的参数对应变场的微小变化很敏感。

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讨论了材料中应变场引起的衍射线展宽。提出了一种普遍适用的晶格缺陷及其畸变场分布模型。

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研究了Warren-Averbach分析和分离尺寸和应变对衍射线展宽贡献的替代分析的有效性。分析应用于模拟和实验线型。模拟线轮廓的傅里叶系数由特定晶格缺陷周围畸变场的表达式导出:错配夹杂物和小角度晶界。还对塑性变形试样(薄铝层和球磨钼粉)的实验粉末衍射线轮廓进行了适用性测试。结论是,对于这两种方法,都存在有限但不同类别的试样,它们给出了有意义的结果。实际上,每次进行分析时,必须根据普通(物理)感觉和样本上的所有可用信息对结果进行测试。

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沃伦推导的含堆垛和孪生断层的f.c.c.金属的线轮廓描述已被修订和扩展。讨论了如何从线路剖面确定故障概率,并通过仿真表明,修正后的结果明显更好。

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