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校正影响衍射线形状的仪器像差需要使用反褶积过程。实际上,当缺陷函数的半高线宽不大于待分析线的六分之一时,反褶积是无用的。当缺陷函数的宽度保持在线宽的一半以下时,可以很容易地执行反褶积过程。对于这两个规则,给出了图表,可以预测X射线测角仪上使用的适当狭缝宽度和样品厚度。

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