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J.应用。
克里斯特。
(1977).
10
,
479-485
https://doi.org/10.1107/S021889877014009
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像差仪器校正:卷积方法的使用标准
R.克罗奇
et(等)
L.加蒂诺
校正影响衍射线形状的仪器像差需要使用反褶积过程。
实际上,当缺陷函数的半高线宽不大于待分析线的六分之一时,反褶积是无用的。
当缺陷函数的宽度保持在线宽的一半以下时,可以很容易地执行反褶积过程。
对于这两个规则,给出了图表,可以预测X射线测角仪上使用的适当狭缝宽度和样品厚度。
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