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J·科拉佐。
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J.应用。
克里斯特。
(1997).
30
,
312-319
https://doi.org/10.107/S0021889896013659
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非对称反射情况下平面粉末样品中X射线的微吸收
J.科拉佐
,
H.赫尔曼
,
W.皮施克
和
K.Wetzig公司
针对非对称反射情况，从理论上分析了X射线在随机非均匀微观结构平面样品中的微吸收。
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J.应用。
克里斯特。
(1995).
28
,
786-792
https://doi.org/10.107/S0021889895007679
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分形微结构中X射线强度的微吸收
H.赫尔曼
和
J.科拉佐
对具有分形内表面的样品的散射X射线吸收进行了理论分析。
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J.应用。
克里斯特。
(1996).
29
,
561-567
https://doi.org/10.107/S002188989600595X
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透射几何中粉末衍射强度的吸收修正
W.Pitschke先生
,
J.A.L.科拉佐
,
H.赫尔曼
和
V.D.希尔登布兰德
分析了样品散射X射线在透射几何中的吸收行为，提出了一种修正方法。
给出的表达式通过其在Rietveld分析中的应用进行了测试。
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