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J.应用。
克里斯特。
(2013).
46
,
1749-1754
https://doi.org/10.107/S002188981302414X
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利用铜X射线辐射获得外延膜的结构因子
P.沃德利
,
A.克雷斯皮
,
J·Gázquez
,
M.A.Roldán先生
,
P.加西亚
,
V.诺瓦克
,
R.坎皮恩
,
T.Jungwirth公司
,
C.里纳尔迪
,
X.马蒂
,
V.神圣
,
C.前沿
和
J.赖斯
使用实验室X射线设备(Cu)获得薄膜中大组结构因子模量的实验方法
K(K)
α辐射)。
使用这种方法,在不预先了解薄膜结构的情况下,解决并细化了CuMnAs薄膜的结构。
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