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美国Bonse发现26处引文。

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作为磁棱镜折射应用的全晶体中子偏振器

G.巴杜雷克,H.劳赫,A.萎缩,U.Bonse公司和W.格拉夫

实验证明，通过三角形几何边界的静态磁场区域传输的中子的众所周知的自旋选择性偏转，再加上非色散双晶排列的高角度分辨率，可以用于将热中子束极化到接近单位的程度1.0~1.5T的合理低实验室场地。

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零吸收LLL X射线或中子干涉仪的球面波理论

W·鲍斯皮斯,U.Bonse公司和W.格拉夫

在零吸收的情况下，计算了三基色干涉仪（LLL）输出光束内的振幅和强度分布，在实际中，零吸收主要是热中子。在这里，我们充分考虑了原子位置上具有波腹的1型波场和异常低吸收的2型波场，其中X射线在晶格中经常异常衰减。在求解了干涉仪的分束器、反射镜和分析晶体对入射平面波的组合衍射后，通过傅里叶展开法得到了入射球面波的解，其方法与加藤首次给出的方法类似[《水晶学报》. (1961),14，526-532]，仅适用于一个衍射晶体板。为了优化干涉仪几何结构，计算了干涉仪几何尺寸和干涉光束之间相移的函数形式的空间强度分布。研究了偏离理想几何的影响。消光长度顺序的偏差会导致干涉对比度的急剧降低。如果t吨M（M）= 2t吨_S公司= 2t吨_A类哪里t吨_M（M）,t吨_S公司,t吨_A类分别是反射镜、分束器和分析仪的厚度。计算的强度分布与最近在格勒诺布尔HFR用硅干涉仪获得的初步实验分布一致。

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用于X射线或热中子的中等波长分辨率的双晶单色仪

W·鲍斯皮斯,U.Bonse公司,W.格拉夫和H.劳赫

提出了一种新型晶体单色器，它有助于选择精确固定的波长λ₀从中间带宽Δλ/λ通常为10的连续体⁻³它的基本特征是两个Bragg-plane间距稍有不同的晶体在近平行方向上刚性粘合在一起，形成连续的Bragg反射。双晶有效地体现了一个波长标准，其确切值由两个晶体的取向差角β决定。描述了锗硅版新设备在中子干涉测量中的应用。射线几何对λ值的影响₀并对Δλ进行了讨论。

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偏对称双晶X射线干涉仪

P.贝克尔和U.Bonse公司

介绍了劳氏偏对称双晶X射线干涉仪的结构和成功运行。对准是通过辅助X射线束完成的，该X射线束被两个干涉仪部件多次反射。正如预期的那样，斜对称双晶体干涉仪被发现比对称双晶体干涉仪受到振动的影响小得多。[Bonse和te Kaat（1968），Z.物理.214, 16–21]. 研究了晶格云纹对Δρ和Δθ轴旋转的依赖性。

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HASYLAB/DESY的吸收和相控显微层析

F.贝克曼,T.李普曼和U.Bonse公司

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中子干涉法测量钍相干散射长度

A.博夫,U.Bonse公司,R.Caciuffo公司,J.M.福尼尔,马内斯河,J.Kischko（基什科）,F.鲁斯蒂切利和T.Wroblewski先生

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相控显微层析的多光束X射线干涉法

U.Bonse公司和F.贝克曼

X射线干涉仪首次以非平面三光束衍射模式工作。除了这种新颖性外，还证明了它能够将相控显微成像中有用的样品体积增加四倍。

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组合劳埃-布拉格-卡斯X射线干涉仪

U.Bonse公司和M.哈特

利用透射和表面布拉格反射两种成分的新型X射线干涉仪获得了X射线干涉条纹。与以前的X射线干涉仪不同，新系统不是消色差的。特别注意制备过程中的几何问题以及X射线折射引起的偏离布拉格定律所带来的问题。通过在其中一条光路中放置有机玻璃楔块时X射线干涉条纹的观察，证明了在实际中可以达到必要的几何精度。

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在5°≤θ范围内快速精确扫描的新型同步辐射X射线双晶单色器_布拉格≤ 85°

U.Bonse公司,Th.Risse公司,R.Nuβhardt公司,U.Dretzler公司,G.恩斯特和S.克拉斯尼基

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π/2几何形状的自由样品空间大于5×5cm的热中子衍射仪²

U.Bonse公司和A.臀部

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运动物质中热中子传播的精确测量

U.Bonse公司和A.臀部

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非惯性系中的中子干涉

U.Bonse公司和T.Wroblewski先生

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双晶形貌中X射线偏振效应的研究

U.Bonse公司和S.克拉斯尼基

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使用同步辐射的具有点聚焦几何结构的Ultra-SAS

U.Bonse公司,R.帕尔和R.努ß哈德

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分离晶体中子和X射线干涉仪

U.Bonse公司和H.尤宾

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显微断层摄影术

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具有可调谐谐波抑制功能的中子和X射线单色器

U.Bonse公司,K.Olthoff-Münter和A.臀部

简要回顾了利用双晶反射抑制谐波的主要方法。使用不相等项的效果d日考虑了间距（色散）。由一对凹槽晶体的整体组合构成的新型全晶体单色仪一和b条如所述。单色性（谐波抑制程度）M（M）(β)通过倾斜槽进行调节一相对于凹槽b条以适当的角度β。倾斜通过一对螺旋弹簧以简单的方式实现。第一个凹槽中有三次反射，第二个凹槽中有两次反射M（M）(β₀)在6.72至9.86 keV的能量和带宽范围内，X射线的测量值在300至100之间ΔE/E≃1.5%.β₀是倾斜角度M（M）(β)已优化。一旦对准，单色仪是一个非常简单的装置，可以安装在任何标准测角头上，可以用于X射线和热中子。

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从劳氏摇摆曲线的精细结构测量硅的X射线散射因子

U.Bonse公司和R.特沃尔特

厚度几乎相等的一对晶体的劳氏摇摆曲线显示出详细的精细结构，这表明它非常适合测定原子散射因子的精确值（f）_克.由此获得的初步数据如下（f）₄₄₀（银K（K）α） =5.377（15）和（f）₄₄₀（月K（K）α） =5.402（18），对于293 K下的硅。它们与过去使用楔形晶体的彭德尔松方法获得的更精确数据非常吻合[Aldred&Hart（1973）。程序。R.Soc.伦敦 序号.A类,332, 223–238]. 讨论了新方法的优点和优点。通过适当的优化，假设采用摇摆曲线法进行测量（f）_克误差小于0.1%的值。

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环形γ康普顿实验²⁴¹Am来源：动量分辨率和可靠性测量

U.Bonse公司,W.施罗德和W.Schülke先生

A类γ环空康普顿实验²⁴¹氨γ-描述了来源。通过蒙特卡罗计算评估样品平面内的初级强度分布以及散射角分布，以确定实验的总动量分辨率（连同能量分辨率）。为了探讨实验装置和数据处理的可靠性，将不同厚度样品的实验康普顿剖面与IUCr项目的结果进行了比较。

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同步辐射X射线用全晶体单色器

U.Bonse公司,G.马特里克和W.施罗德

综述了同步辐射X射线单色化和以最合适的方式消除谐波的一些技术。将理论估计值与汉堡DESY的光谱强度分布测量值进行了比较，发现两者吻合良好。

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