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J.应用。
克里斯特。
(2003).
36
,
366-367
https://doi.org/10.107/S0021889803001158
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1300 K炉
就地
X射线显微层析
D.Bellet公司
,
B.三峡
,
A.达尔利
,
P.伯纳德
,
E.佩雷罗
和
J.巴鲁切尔
设计并建造了一个温度范围为298至1300 K的熔炉，用于研究
就地
利用同步辐射X射线显微层析技术研究材料的结构演变。
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J.应用。
克里斯特。
(1999).
32
,
1134-1144年
https://doi.org/10.107/S0021889899011103
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的结构特性
第页
+
-类型多孔硅层
与
衬底取向的X射线衍射比较研究
C.费弗尔
和
D.Bellet公司
（001）和（111）取向的结构性质
第页
+
-用X射线技术研究了型多孔硅样品。
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