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查出了38条有关巴纳的引文。

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结果1到20，按名称排序：

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抛物面锥形玻璃毛细管全外反射聚焦X射线

D.X.巴拉奇,K.A.Nugent公司,Z.巴纳,R.加勒特和S.W.威尔金斯

报道了首次在抛物面锥形玻璃单毛细管出口外观察到X射线真正的几何焦点。观察到8 keV X射线在6×9μm针孔中的强度增益为250±20，20 keV以下的透射效率超过90%。

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毛细管聚焦同步辐射X射线束对蛋白质晶体衍射图谱的研究

D.X.巴拉奇,Z.巴纳,K.A.Nugent公司,R.F.加勒特,J.N.瓦尔盖塞和S.W.威尔金斯

使用抛物面锥形玻璃单毛细管将8keV单色同步辐射弯曲磁铁X射线束聚焦到距离毛细管出口45（±5）mm的40（±5。该焦点的测量强度增益为单色仪无聚焦光束等效横截面中强度的120（±10）倍。该聚焦光束用于从鸡蛋白溶菌酶蛋白晶体的两种不同几何形状的成像板上获得振荡衍射图案：一种是样品晶体位于毛细管出口，另一种是晶体位于光束焦点。在第一种几何结构中，在焦平面上观察到聚焦布拉格反射。在第二种几何结构中，观察到小晶体体积的高强度发散布拉格反射。将这两种几何形状的成像板衍射图案与使用同一晶体的100×100μm无聚焦X射线束获得的等效积分衍射强度的曝光进行了比较。聚焦光束的使用使产生等效图案所需的曝光时间减少了70到100倍。

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氯化铯的德拜-沃勒因子

Z.巴纳和B.岗位

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利用毛细管聚焦X射线进行蛋白质晶体学

Z.巴纳,D.X.巴拉奇,K.A.Nugent公司,R.F.加勒特,瓦尔盖塞和S.W.威尔金斯

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测量X射线探测器的线性：绝对衰减、散射和绝对布拉格强度的结果

Z.巴纳,C.T.Chantler公司,J.L.格洛弗,M.W.格里格,伊斯兰理工学院,M.D.de Jonge博士,N.A.雷和C.Q.Tran公司

讨论了如何测试和验证广泛晶体和X射线测量所需的X射线探测器线性。

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检测谐波对衍射X射线强度的贡献

Z.巴纳和J.莫希拉

箔对特征辐射的吸收系数与其谐波之间的明显差异可用于确定单色仪或样品衍射的X射线的波长组成。提出了一种简单的实验方法，并用于测定磷化镓在钼的200位置400次反射衍射的λ/2谐波强度K（K）α峰值。在45 kV的管电压下，λ/2的贡献率为9%；当脉冲高度分辨阻断总计数的10%时，它下降到2.5%。我们的程序直接检查了平衡滤波器的有效性和电子对谐波辐射的辨别能力。

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单晶中子衍射研究用真空炉

Z.巴纳和G.R.塔架

介绍了一种用于室温至1000°C之间单晶中子衍射研究的简易真空炉。

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表面损伤对磨球单晶衍射X射线强度的影响

J.M.博姆,P.R.布拉格和Z.巴纳

比较了硅、硫化锌和氟化钙研磨球形单晶蚀刻前后的积分强度。扫描电子显微照片上显示的未被覆盖晶体的表面损伤导致X射线布拉格强度显著增强。对文献中报道的物理不切实际的现象学消光参数提出了可能的解释。

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用X射线增程技术高精度测量X射线质量衰减系数的新一致性检验

C.T.Chantler公司,M.T.伊斯兰,N.A.雷,C.Q.Tran公司,J.L.格洛弗和Z.巴纳

一种新方法——多独立箔技术——提供了数据一致性测试，并扩展了X射线扩展范围技术，用于测量X射线质量衰减系数和X射线吸收光谱。

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单晶的X射线吸收精细结构

C.T.尚特勒,C.Q.Tran公司和Z.巴纳

本文介绍了一种从完美晶体中收集X射线吸收精细结构的技术，该技术没有大的系统误差。

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迈向标准化的一步：发展X射线吸收和荧光的精确测量

C.T.Chantler公司,Z.巴纳,C.Q.Tran公司,N.A.雷和M.D.de Jonge博士

提高XAFS测量精度的背景和方法，朝向数据沉积和理论发展。

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同步辐射X射线增程技术精确测量钼的X射线质量衰减系数和IM（F）

M.D.de Jonge博士,C.Q.Tran公司,Z.巴纳,B.B.达尔,D.J.库克森和C.T.Chantler公司

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硒化镉的结构和Bijvoet比

D.K.弗里曼,S.L.迈尔和Z.巴纳

硒化镉的结构已由扩展面晶体获得的X射线强度数据确定。纤锌矿参数u个结果为0.37679±0.00012。等效反射强度的比较为测量的内部一致性提供了测试。两个样品的等效反射与平均测量强度平均相差1.4%和0.6%，证明了扩展面晶体测量的内部一致性很高。从两个样本获得的数据中得出的36个结构因子的比较表明，它们与平均值的平均偏差为0.9%。根据观察到的Bijvoet比率对两个原子的色散修正进行最小二乘法改进的尝试失败了，可能是因为相关性。当一个原子的色散校正保持不变时，确实可以细化另一个原子色散校正。

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电荷耦合器件成像系统在X射线胶片强度测量中的应用

M.W.格里格和Z.巴纳

描述了一种通过使用充电耦合设备。使用证明了观察到的薄膜响应。

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飞利浦PW1050粉末衍射仪微机采集系统

M.W.格里格,A.基廷,A.布罗克韦尔和Z.巴纳

描述了一种简单、经济高效的系统，用于将Philips PWl050粉末衍射仪的输出转换为适合于个人计算机记录和分析的数字形式。

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飞利浦PW1100单晶衍射仪计算机控制系统的现代化

M.W.格里格和Z.巴纳

本文介绍了飞利浦PW1100单晶衍射仪控制系统的改进，其中微型计算机控制系统及其部分相关硬件接口已被具有自定义接口的IBM AT兼容计算机所取代。

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四方钛酸钡的X射线和中子衍射研究

J.原田,T.佩德森和Z.巴纳

试图区分之前提出的三种四方BaTiO结构模型_三在新模型中，通过使用从c（c）-畴单晶。细化结果表明，Ti原子从立方位置的位移为0.0135±0.0004Ω；这个R（右）中子和X射线数据的值分别为0.027和0.024。分析还表明，温度参数，B类₃₃，沿着c（c）轴几乎与质量无关；B类₃₃= 0.32 ± 0.03 Å²X射线和0.33±0.04欧²来自中子衍射。获得的平均值B类₁₁温度参数，B类₁₁= 0.50 Å²，大大高于B类₃₃值，从而清楚地表明在室温下存在低频光学模式。

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银在5-20keV范围内的X射线质量衰减系数的测量

M.T.伊斯兰,L.J.坦套,N.A.雷,Z.巴纳,C.Q.Tran公司和C.T.Chantler公司

银的X射线质量衰减系数在5-20keV的能量范围内测量，在5.3keV的相对标度下，准确度为0.01-0.2%，在5.0keV的绝对标度下准确度为0.09-1.22%，证实了通过仔细选择箔片厚度和仔细修正，系统地研究了高能量下的X射线衰减-Z轴即使在低X射线能量下，也可以高精度地测量元素。

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通过倾斜于延伸晶面的平面衍射确定极性

S.L.迈尔,P.R.普拉格和Z.巴纳

描述了通过比较Friedel相关反射对的强度来确定非中心对称晶体的晶体极性，这些反射对来自倾斜于延伸晶面的平面。使用立方ZnS的测量来说明该方法。讨论了倾斜于延伸晶面的平面的反射吸收的一般情况。

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SrF非简谐温度因子的中子衍射研究₂

S.L.迈尔,Z.巴纳,M.J.库珀和K.D.劳斯

两个SrF单晶中子布拉格反射的精确积分强度₂在295至1043°K的温度下进行了测量。对消光和热扩散散射进行了校正，并根据包含原子热振动中谐波和非谐波成分的模型对实验数据进行了分析。三阶非谐项的重要贡献，β_F类，在氟原子的单粒子势中，在所有温度下都观察到与其四面体位置对称性一致的氟原子。在773°K下，显著各向异性四阶分量，δ_高级和δ_F类在锶和氟原子的热振动中变得明显。在这个温度下β_F类精炼至-3.45（±0.11）×10^-12ergÅ公司^-3，带有δ_高级= 1.30 ( ± 0.75) × 10^-12erg奥^-4和δ_F类= 0.84 (± 0.29) × 10^-12erg奥^-4.参数的积极迹象δ_高级和δ_F类由于库仑力对原子振动的影响。

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