利用特征X射线劳厄法进行晶体的高精度定向

先前开发的一种精确定向完美或接近完美晶体低折射率平面的方法已扩展到具有任意折射率的平面。通过预测由特征X射线引起的劳厄斑点的后向反射模式，以及通过识别在获得正确方向时应具有相同强度的斑点，完成了延伸。在有利的情况下，可以将样品晶体定向在所需定向的0.01°范围内。在不能使用等密度标准的情况下，使用预测模式的定向精度至少与使用传统劳厄方法的定向精度一样好。此外，无需测量斑点之间的角距离或晶体与薄膜之间的距离。

阅读文章类似文章

回复麦金太尔和巴妮亚对我们文章的评论利用特征X射线劳厄法进行晶体的高精度定向

G.克里斯蒂安森,L.Gerward先生和I.阿尔斯特鲁普

双方同意，在克里斯蒂安森、格沃德和阿尔斯特鲁普的方法中，误差必须保持较小[《水晶学报》。(1975). 一个31Mclntyre&Barnea指出[《水晶学报》。(1976). 一个32, 168]. 关于分散度的评论包含在原始论文中。

阅读文章类似文章

硅和锗的X射线反常散射因子

L.Gerward先生,G.图森,M.Stibius延森和I.阿尔斯特鲁普

硅和锗的X射线衰减系数的精确测量已用于确定与光效应截面相关的色散校正。将结果与基于相对论和非相对论量子力学的计算结果进行了比较。提出了一种新的符号，以便于实验结果和理论结果之间的比较。

阅读文章类似文章

格式		BIBTeX公司
		尾注
		RefMan参考手册
		请参阅
		Medline公司
		成本加保险费、运费
		SGML公司
		文本
		纯文本

格式		BIBTeX公司
		尾注
		RefMan参考手册
		请参阅
		Medline公司
		成本加保险费、运费
		SGML公司
		文本
		纯文本

格式		BIBTeX公司
		尾注
		RefMan参考手册
		请参阅
		Medline公司
		成本加保险费、运费
		SGML公司
		文本
		纯文本

格式		BIBTeX公司
		尾注
		RefMan参考手册
		请参阅
		Medline公司
		成本加保险费、运费
		SGML公司
		文本
		纯文本

格式		BIBTeX公司
		尾注
		RefMan参考手册
		请参阅
		Medline公司
		成本加保险费、运费
		SGML公司
		文本
		纯文本

搜索结果

搜索结果结晶学杂志在线

利用特征X射线劳厄法进行晶体的高精度定向

回复麦金太尔和巴妮亚对我们文章的评论利用特征X射线劳厄法进行晶体的高精度定向

硅和锗的X射线反常散射因子

搜索IUCr日志		国防部		高级搜索
作者		体积	第页