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发现了15篇关于Afanas'ev,A.M.的引文。

Afanas'ev有15篇文章,A.点击在这里来看看这些。

搜索阿法纳萨耶夫,A.M。世界结晶学家名录

结果1至15,按名称排序:


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发展了一致的X射线动力学理论,该理论以显式形式考虑了汤姆逊散射、光电吸收、康普顿散射以及声子对X射线的非弹性散射过程。特别注意分析晶格振动和温度所起的作用。由于声子的非弹性散射,动力学方程系数的温度依赖性不是由Debye-Waller因子决定的,而是具有更复杂的行为。详细分析了晶格振动对反常透射效应的影响。

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给出了厚理想吸收晶体X射线积分反射系数的一般解析表达式。

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得到了描述缺陷晶体中X射线衍射的积分方程组。对于弱畸变和强畸变区域,建议对缺陷进行简单描述。在理想晶体的情况下,对于任意厚度的晶体,给出了具有任意入射光束分布的波场的解。对于畸变晶体,积分方程给出了处理弱畸变区和强畸变区的通用方法。将强畸变区域的图像确定问题简化为一个简单的一维积分方程的求解。初始积分方程的第一次迭代近似显示出类似于傅里叶分析方法的结果,缺陷被视为一个小扰动。

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以紧凑形式得到了X射线衍射四波情形的色散方程,并研究了两波与任意多波情形之间的中间区域。

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考虑了三波、四波和六波同时衍射对称情况下反常透射(Borrmann)效应的强增强。当布拉格条件满足时,得到了衍射问题的解析解。在考虑偶极和四极相互作用的情况下,研究了抑制光电吸收的效果。

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给出了晶体中X射线衍射产生二次辐射的理论的一般公式,使光电效应、荧光和热扩散散射(TDS)等过程能够得到统一的描述。根据晶体的弹性特性,得到了描述晶体TDS的表达式。详细分析了TDS的特异性。结果表明,TDS屈服曲线不仅取决于入射波和绕射波的散射截面,还取决于散射振幅之间的相位关系。

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发展了理想晶体在入射光束和衍射光束与晶体入口表面成小角度的条件下的X射线衍射理论。除了衍射波在晶体内部传播之外(劳氏衍射)分别由入射波和衍射波产生两个镜面反射波。这种衍射方案最近已付诸实施[Marra,Eisenberger&Cho(1979)]。J.应用。物理学。 50, 6927-6933]. 发现在小入射角下,存在反射衍射波强度接近入射波强度的方向,而镜面反射波和衍射波强度均接近于零。得到了衍射曲线形状的解析表达式。结果表明,对于衍射曲线测量,通过X射线在晶体上的入射角进行高准直,Φ,就足够了。无需通过表示偏离精确布拉格条件的参数提供准直。由于α,Φ以及从晶体的入射表面反射的衍射波的出射角,Φ′,Φ2= α +Φ2,当测量反射衍射波的强度时Φ,强度是α的函数。测量Φ精度约为30〃的′对应于精度约为0.1〃的α。这些事实充分简化了实验性能,并以独特的精度为研究薄亚表层晶体结构开辟了广阔的前景。

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结果表明,通过测量远离布拉格峰的X射线衍射散射的角度依赖性,可以直接获得有关薄亚表层结构完善性的信息。这与晶体体中产生的波相互补偿的事实有关,并且摇摆曲线尾部的强度主要是由于亚表层中的散射。散射层的典型厚度通过简单关系与偏离角相关:ΔzL(左)前任ω0/α,其中α是试样与准确布拉格位置的偏差角,ω0衍射最大宽度,以及L(左)前任消光长度。三晶体衍射法首次允许使用厚度约为10nm的畸变层的常规X射线源进行观察。

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首次实验实现了掠布拉格-劳厄几何中的三晶体X射线衍射(TCD)。对TCD谱上主峰和伪峰的角位置和强度进行了理论模拟。研究表明,掠入射Bragg-Laue几何中的TCD具有以下特点:(1)主峰在光谱上的角位置和强度取决于偏离角的符号;(2) 当负偏角达到临界值时,主峰完全消失;(3) 放牧Bragg-Laue几何形状中主峰的强度大约增加了10倍2(与对称布拉格衍射几何相比)。上述特性在理论上得到了预测,并通过对理想硅晶体的实验研究得到了证实。

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概率密度的傅里叶分量之间建立了一个简单的关系P(P)(z(z))晶体不同深度的光电子发射以及倾斜X射线劳厄衍射中形成的光电子的发射的角度依赖性,这首次允许使用直接方法重建P(P)(z(z))功能。利用铜的衍射对硅单晶进行了光电子发射角依赖性的精确测量不同能量范围的辐射。光电由专门设计用于在倾斜劳厄衍射条件下进行光电子能量分析的比例气体计数器记录。理论预测的规律已经得到充分证实,相应的P(P)(z(z))得到了函数。

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X射线纯衍射强度的角度依赖性(θ)用三晶衍射法测量了Ge和Si单晶(表面覆盖有天然氧化物薄膜)中的元素。测量范围扩展到样品晶体与布拉格角的角度偏差,布拉格角半宽可达500。这个(θ)在如此大的偏差角度下的数据可以提供晶体深度上的静态和动态德拜-沃尔因子变化的信息,可实现的空间分辨率为1nm量级。渐近布拉格衍射的高空间分辨率使得有必要在理论上考虑散射特性(德拜-沃勒因子)和面间距的逐层变化。提出了该问题的理论处理方法。从晶体-氧化物边界计算,前四个原子平面的重构德拜-沃勒因子对锗和硅分别为0.3、0.4、0.7、0.7和0.6、0.6、0.9、1。

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根据摇摆曲线用X射线测定地下薄层中的应变和损伤分布是一个模棱两可的过程。在以下情况下N个变形层,可以在运动极限内获得所有等效轮廓,其总数可能足够大,达到2个数量级N个[Afanas'ev和Fanchenko(1986)。多克。阿卡德。诺克SSSR,287, 1395-1399]. 对该问题进行了更详细的理论处理,并给出了所有双晶等效晶体结构的解析表达式(导致衍射强度与次表层中具有恒定间距偏差的晶体相同的晶体结构)。

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提出了一种新的方法,用于从所选择的晶面和表面非晶层的厚度同时确定表面的小取向差。该方法基于镜面反射条件下的X射线衍射实验。定向误差的测定包括以下衍射曲线强度的比较香港特别行政区{\bar h}{\bar k}{\bar l}从垂直于切割晶体表面的晶体平面的平面获得的反射。测定的准确度超过了其他方法已知的准确度。非晶层被认为是氧化物膜或任何其他没有晶体结构的无序层。通过与理论计算进行比较,根据衍射曲线形状确定层厚度。该方法可检测厚度为~5μl的层,这似乎是X射线衍射方法所独有的。该方法可广泛应用于完美晶体样品的表面分析,特别是半导体微电子材料的表面分析。

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实验结果表明彭德尔松发现了条纹,并给出了一个经典条纹。考虑到辐射在真空中传播时相位关系的变化,建立了X射线球面波衍射的一般理论。对观察到的实验结果的解释和对可能出现的彭德尔松给出了效果。给出了关于先前发现的聚焦现象的新数据。

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发展了两个性质相同或不同、空间分离的完美晶体中X射线球面波衍射的一般理论。该理论考虑了晶体内部和真空中晶体之前、之间和之后的波的相移。考虑了辐射的非单色性、源的尺寸以及第一晶体前狭缝的位置。给出了干涉条纹和辐射聚焦的理论计算和实验研究结果。对于影响聚焦的实验参数值,实验数据和理论数据之间取得了很好的一致性。

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