当使用振荡摄影法收集数据时，有必要区分完全通过Ewald球体的反射（“全反射”）和穿透不完全的反射（（“部分反射”）。这种区分需要准确了解晶体设置参数。当相邻薄膜并非来自同一晶体时，如果要使用部分反射，则这一点尤为必要。通常情况下，衍射强度较弱，如寡聚蛋白和病毒晶体中的衍射强度。通过比较一张胶片上的部分反射与对同一张或另一张胶片相同反射的完全观察，可以获得设置参数的估计值[Schutt，C.E.&Winkler，F.K.（1977）。晶体学中的旋转法，由U.W.Arndt和A.J.Wonacott编辑，第173–186页。阿姆斯特丹：北荷兰]。对所观察到的偏倚程度的测量，第页光突发事件，并与计算值相关，第页计算，由晶体设置参数导出。最小二乘法最小化E类=Σω(第页光突发事件−第页计算)2从而细化了（1）每个晶体的取向，（2）晶胞尺寸和（3）每个晶体有效的镶嵌扩展。这项技术的示例来自高分辨率南方豆花叶病毒数据的处理。
