《水晶学报》。(1964).17，639-645
https://doi.org/10.107/S0365110X64001566

用薄膜粉末法测定精确的晶格参数。三、 柱面衍射相机轴向（垂直）发散曲线的精确图解法

K.E.Beu先生，D.K.Landstrom公司，D.R.惠特尼和F.R.派克

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