Elastic strain and stress determination by Rietveld refinement: generalized treatment for textured polycrystals for all Laue classes

Popa, N.C.; Balzar, D.

doi:10.1107/S0021889801002060

通过Rietveld细化确定弹性应变和应力：所有劳厄类织构多晶体的广义处理

提出了一种模拟织构多晶体中弹性残余应力或外加应力引起的衍射线位移的新方法。该模型得出了作为晶粒取向函数的完整应变张量和应力张量，以及宏观应变和应力张量的平均值。它特别适合在Rietveld优化程序中实现。给出了所有晶体劳厄类的再加细参数要求。还包括了样品对称性的影响，并讨论了应变对样品对称性（纹理和应力/应变）不变的条件。

关键词：强调;拉紧;纹理;多晶;劳厄类;结构精修.

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