（IUCr）《应用晶体学杂志》第56卷第5部分，2023年10月

AlphaFold、小角度X射线散射和集成建模：内在无序蛋白质的成功组合

V.Receveur-Bréchot公司

作者最近的一篇文章布鲁克斯、罗科、瓦切特和特瑞维拉[J.应用。克里斯特。(2023),56, 910–926]讨论了如何提高无序蛋白质AlphaFold结构预测的准确性。

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铟K（K）金属喷射X射线源的α辐射：电荷密度研究的成功之路

N.格雷,P.N.鲁思,T.厄内曼,R.赫伯斯特·伊尔默和D.秸秆

启用InK（K）对α金属射流源进行了描述，最终进行了第一次电荷密度研究。

CCDC参考:2288995

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铟K（K）MetalJet X射线源的α辐射：Eiger2-CdTe和Photon III探测器的比较

P.N.鲁思,N.格雷,T.厄内曼,R.赫伯斯特·伊尔默和D.秸秆

本文介绍了MetalJet In的首次应用K（K）α辐射到单晶X射线晶体学，并评估两种不同的探测器，即Bruker Photon III和Dectris Eiger2 CdTe，用于球面和非球面结构模型。

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纳米结构薄膜二维掠入射小角度X射线散射模式的模拟与拟合策略

F.A.Jung先生和C.M.帕帕达克斯

介绍了一种利用畸变波玻恩近似模拟和拟合支撑纳米结构软薄膜的二维掠入射小角度X射线散射图案的策略。纳米结构、表面粗糙度和背景散射的不同散射贡献被分别处理并逐步调整。为了最大限度地减少计算工作量，选择了1D线切割，其中散射主要归因于其中一个贡献，发现的参数将在后续步骤中使用。因此，单独测量裸基板是有益的。

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含有相关散射长度密度不均匀性的平板双层的小角度散射

F.斯宾诺齐,L.R.S.巴博萨,G.科鲁奇,P.马里亚尼和R.伊特里

提出了一种模拟具有水平相关不均匀性的平面双层膜的小角度X射线和中子散射曲线的方法，这些不均匀性代表了脂质结构域、蛋白质或孔隙。

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室温连续晶体学中脂立方相高密度微晶的通用方法

描述了一种用于串行晶体学的在脂质立方相中制备高密度膜蛋白微晶的通用方法。

PDB参考:用同步辐射连续晶体学8a2p测定稳定的A2A–LUAA47070配合物的室温结构;用同步辐射连续晶体学8a2o测定稳定的A2A-茶碱络合物的室温结构;Archaehodopsin-3暗适应6guy的室温结构;光激发7zy3后获得110ns的Archaehodopsin-3的室温结构

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剪切对胶体团簇生长的影响：SANS和USANS研究

C.穆兹尼,L.de Campo公司,A.索科洛娃,C.J.加维,C.雷姆和H.汉利

本研究考察了模型工业过程中微观结构的时间演化，即凝胶引发的二氧化硅粒子溶胶在简单的Couette剪切场中，使用小角中子散射SANS）和超小角中子扩散（USANS）在大范围的散射矢量量级/长度标度上的时间演化。将实验得出的参数与简单的理论模型进行比较，可以提供更多的见解。

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用蒙特卡罗方法从小角度X射线散射数据反演SBA-15中孔的尺寸分布

X.谭,B.B.杰贝利,M.C.A.范蒂尼,C.L.P.奥利维拉,H.N.Bordallo先生和P.L.Oseliero菲略

本工作中提出的新模型允许使用自由建模方法从小角度X射线散射数据中检索SBA-15（和类似有序介孔材料）的介孔尺寸分布。根据所获得的结果，甚至可以恢复更复杂的尺寸分布，例如具有扩展的中孔的SBA-15的情况。

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多电极电化学电池就地非晶薄膜催化剂的高能X射线散射结构表征

G.权,K.基斯林格,S.Hwang（黄哲伦）,G.赖特,B.莱恩,H.钟,A.帕特马特尔,J.林奇,J.金,G.胡,G.W.布鲁德维格,W.-I.李和C.-Y.Nam公司

基于多电极的电化学电池允许使用高能X射线散射技术在反应条件下对非晶薄膜催化剂进行结构表征。

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304奥氏体不锈钢的Bragg边缘透射成像显微组织和织构分析

巴赫蒂亚里,F.萨德吉,H.佐藤,W.嗯,C.H.Yim先生和H.-S.李

在这项工作中，使用布拉格边缘成像测量了304型不锈钢样品的晶粒尺寸、织构和相体积分数，并用电子背散射衍射法进行了验证。布拉格边缘成像结果是使用紧凑加速器中子源获得的。

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倾斜扫描三维X射线衍射显微镜的高分辨率三维晶粒取向成像

J.金,Y.Hayashi先生和M.Yabashi先生

用倾斜扫描三维X射线衍射研究了α-Fe的微观结构(我S3DXRD）显微镜技术。通过组合我S3DXRD采用亚体素分析，空间分辨率达到2.5µm，是入射X射线束大小的四分之一。

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外延SrO（SrTiO）中层错产生的应变_三)_N个Ruddlesden–波普尔结构

G.圣基隆,C.福吉奥,L.Largeau公司,A.丹内斯库,R.巴切莱特和M.Bouras先生

SrTiO中与层错相关的剩余失配_三-基于Ruddlesden–Popper（RP）的结构显示，受扰区域到RP结构的侧向应变传递的离域机制可以容纳RP结构，从而在后者中产生压缩应变分布。基于X射线衍射实验，用于显示这种机制的方法还可以评估层错的空间分布，并准确确定形成缺陷的两个SrO平面之间的面间距。

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