（IUCr）《应用晶体学杂志》第56卷第2部分，2023年4月

J.应用。克里斯特。(2023).56,328-337
https://doi.org/10.107/S1600576723000237

离散纳米材料的对分布函数分析PDF图形用户界面

Z.Chen（陈）,M.L.博韦和K·W·查普曼

提出了一种利用晶体模型模拟离散粒子对分布函数的方法。

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方解石（CaCO）上硫酸钙的外延_三). 三、硬石膏（CaSO）的{010}、{001}、}100}和{011}生长形式₄)沉积在方解石{10.4}菱面体上

D.阿奎拉诺,布鲁诺先生,S.Ghignone公司,L.Pastero（巴斯特罗）和A.科特鲁奇

本文报告了对硬石膏（CaSO）之间外延的重新评估₄)方解石的{10.4}菱面体。

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利用电子背散射衍射图样确定晶格。第1部分：。布拉格角在哪里？

G.诺尔兹,托卡斯基和Ł. 里奇·奥斯基

根据模拟的后向散射菊池模式确定了350多个相位的晶格参数。与平均原子序数相关的偏差与之前在实验电子背散射衍射图样中观察到的偏差相对应。

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利用电子背散射衍射图样确定晶格。第2部分。偏移校正

G.诺尔兹,托卡斯基和Ł. 里奇·奥斯基

模拟后向散射菊池模式中自动确定的带宽与与散射体密度相关的双布拉格角存在差异。建议进行更正以弥补这一点。

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利用电子背散射衍射图样确定晶格。第3部分。伪对称

G.诺尔兹,托卡斯基和Ł. 里奇·奥斯基

区分电子背散射衍射图样中的实际伪对称性和表观伪对称性几乎是不可能的，即使是模拟图样也是如此。然而，只要信号不是多个模式的叠加，生成的晶格始终是超晶格。

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现场相干X射线衍射下微柱的压缩：实验和数据分析约束的案例研究

P.戈达尔,M.Verezhak先生,T.萨达特,F.米涅罗,V.L.R.雅克,D.勒博洛赫,C.里希特,F.贝伦盖尔,A.迪亚兹,S.Van Petegem先生,P.-O.雷诺和L.蒂利

本文讨论了三种相干X射线衍射实验装置应用于微柱压缩的可能性。用准直光束精确测定屈服应力。将来自立柱的信号与来自底座的信号进行反褶积的方法以及估算就地文中还提出了微柱的曲率半径。

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基于Takagi-Taupin理论的表面起伏晶体有限元模拟

Y.-H.王,李先生,L.Kang（李康）和Q.-J.贾

具有表面起伏的晶体的Takagi–Taupin动态X射线衍射模拟表明，表面起伏对低频范围内的晶体的影响是局部的，可以用经典X射线动力学理论进行预测。

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结合Borrmann和弱束衍射图像研究高质量CdTe（Zn）晶体中的缺陷

T.旅程,D.布雷利尔,P.芭蕾舞,T.N.Tran Thi Caliste公司,E.痛风,D.科隆和J.巴鲁切尔

利用高完美CdTe（Zn）晶体上的同步辐射摇摆曲线成像，研究了这种高吸收、Borrmann效应情况下的第二相缺陷和位错特征。使用Borrmann图像和弱束图像，可以确定晶体中缺陷的深度。在只有少量缺陷的晶体上获得的这一知识可以更好地理解其他晶体中存在的更复杂的缺陷结构。

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CrystalMELA公司一种用于晶体系统测定的新型晶体学机器学习平台

N.Corriero公司,里兹（R.Rizzi）,G.塞滕布雷,N.Del Buono公司和D.迪亚科诺

一种新型人工智能平台，CrystalMELA公司，它可以实现机器学习模型。使用有机、无机和金属-有机化合物和矿物的粉末X射线衍射模式来训练和测试学习模型，以及CrystalMELA公司已用于晶体系统分类。

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用晶体学数据库评估小分子的构象

P.McCabe先生和J.科尔

这项工作提出了一种利用晶体分布评估键长、价角、扭角和分子构象的新方法。

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锂摩擦非线性晶体中的旋光

M.肖帕,N.Ftomyn公司和Y.肖帕

采用双波长旋光技术研究了锂摩擦非晶双轴晶体沿其中一个光轴和双折射方向的旋光参数。

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Ti/Al基GaN纳米线的X射线散射研究₂O（运行）_三分子束外延

V.M.卡加纳,O.V.科诺瓦洛夫,G.卡拉布雷斯,D.范特雷克,A.克瓦希涅夫斯基,C.里希特,费尔南德斯·加里多和O.勃兰特

掠入射小角度X射线散射强度的蒙特卡罗建模提供了有关GaN纳米线横截面尺寸和形状分布以及侧面粗糙度的详细信息。横截面为十二角形而非六边形。利用X射线衍射发现纳米线的取向分布很窄。此外，各种不同的拓扑结构微晶的平面内和平面外晶格参数介于Al的晶格参数之间₂O（运行）_三溅射Ti薄膜中显示了GaN和GaN。

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