（IUCr）应用晶体学杂志第48卷第6部分，2015年12月

21世纪的晶体学：纯粹与应用

S.S.哈斯奈

结晶学领域在过去100年中对科学产生了重大影响，随着技术和概念界限的突破，结晶学正在继续拓展科学视野。结构-功能-动力学将成为许多研究的综合主题，同样，在没有晶体“仁慈专制”的情况下获得结构也是如此。

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利用劳厄衍射点的数字图像相关性精确测定应变

A.博贝里

基于劳厄衍射点数字图像相关性的新分析确定了偏差应变张量的元素，精度约为10⁻⁵.

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在磁性纳米复合材料的内部：我不是现在的我

H.B.斯图尔曼

磁中子散射图像中的一个意外且不总是容易识别的特征正在拓宽微磁结构的前景[Mettus&Michels（2015）。J.应用。克里斯特。 48, 1437–1450].

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主成分分析在配对分布函数数据中的应用

K·W·查普曼,S.H.拉皮德斯和P.J.丘帕斯

主成分分析有助于从高通量和就地通过分离相互关联的原子-原子对的贡献，并显示这些贡献如何随成分、反应状态或环境变量而变化的实验。

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角色散和波长色散中子飞行时间粉末衍射数据的Rietveld精化方法

P.雅各布斯,A.胡本,W.Schweika公司,A.L.楚格里夫和R.德伦斯科夫斯基

本文介绍了一种对飞行时间中子衍射仪测量的二维角向和波长色散粉末衍射数据进行Rietveld细化的新方法。为此，作者安萨茨对从POWGEN衍射仪获得的衍射数据进行了验证，并进一步证明了其在目前正在建造的新型POWTEX仪器模拟中的可行性和效益。

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PbZrO的中子散射研究_三和富锆PbZr_1–x个钛_x个哦_三

N.张,巴希夏先生,A.M.格雷泽,J.赫林卡,M.Gutmann先生,H.A.火花,T.R.Welberry公司,A.马奇罗夫斯基,K.Roleder公司,谢义勇（Y.Xie）和Z.-G.叶

锆酸铅和锆钛酸铅晶体的中子散射表明氧八面体的短程有序性。

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掠入射小角度X射线散射与计算机层析成像相结合的图案化薄膜可视化

H.小川,Y.Nishikawa先生,A.藤原,竹中弥生,Y.-C.王,T.卡纳亚和M.高田

研究了利用掠入射小角散射与计算机层析测量相结合重建图案化薄膜的二维图像。

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D整形器：处理缺失低点的方法-问纳米结构体系的成对分布函数分析中的数据

D.奥尔兹,王海伟和K.页码

介绍了一种近似纳米颗粒系统形状函数的方法，用于对分布函数数据分析。这是在简单的计算机程序中实现的D整形器.

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有限空间相干长度对小角度散射的影响

Y.Shinohara公司和Y.Amemiya公司

前向散射有助于超小角度散射的散射强度分布。

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大β-BaB的可控生长₂哦₄基于理论指导的晶体

Z.李,R.Zhang（张瑞敏）,吴彦祖（Y.Wu）,B.唐和G.张

这份手稿报道了对大型BaB生长的理论研究₂哦₄BaB等直径生长的晶体₂哦₄–NaF系统，使用助焊剂Czochralski方法。

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纯镍晶界的连续切片三维表征通过机械抛光

H.皮尔加西,K.格洛温斯基,A.莫拉威克和L.A.I.Kestens公司

本文采用机械抛光连续切片技术，获得了宽场三维电子背散射衍射数据集，并提取了五个宏观晶界参数。本文的创新之处在于获取微观结构的大规模（毫米）三维图像。提出了一种新的对齐算法，用于精确对齐连续截面，与迄今为止发表的传统对齐方法相比，该算法需要显著改进。

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调制增强衍射的定制多元分析

R.卡利安德罗,P.古奇奥内,G.尼科,G.图图尼和J.C.汉森

多元分析已被用于处理调制增强衍射的数据，目的是增加该技术的潜力。

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用直接方法以非原子分辨率求解蛋白质

M.C.伯拉,B.卡罗齐尼,G.L.卡斯卡拉诺,C.贾科瓦佐和G.波利多里

一个新的三重不变量公式用于相位从头算具有非原子分辨率数据的蛋白质。

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铝的X射线全散射研究_0.57锡_0.43哦_1.71纳米粒子

M.亚武兹,M.克纳普,S.Indris公司,M.Hinterstein先生,W.唐纳和埃伦贝格

传统的Rietveld细化方法对纳米结构复合材料具有很大的局限性，因为纳米颗粒的尺寸较小，并且与块体相比，表面原子的贡献更大。因此，有关铝/锡原子周围畸变幅度、铝原子簇和纳米结构铝中原子概率分布的定量信息_0.57锡_0.43哦_1.71只能通过PDF分析获得。

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堆垛故障NiCl（OH）的结构求解与精制

S.Bette公司,R.E.Dinnebier公司和D.弗雷尔

通过不同的水热合成方法获得了两种层状双氢氧化物NiCl（OH）样品。开发了一个递归例程，用于在真实空间中建模堆叠故障，在两个样本中都很明显，并在程序的语法中实现托帕斯并首次成功应用于粉末衍射数据的全局和局部优化。

CCDC参考:1426206

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计算机断层扫描的Rietveld分析及其在甲醇制烯烃反应器床层中的应用

D.S.Wragg先生,M.G.O'Brien先生,M.Di Michiel先生和F.伦斯塔德·布列肯

利用参数Rietveld细化提取的结构数据对沸石催化剂床层进行层析重建，显示出反应后催化剂失活程度的微小但显著的三维变化。

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拓宽微观结构分析程序(BMAP公司)：各向同性和各向异性晶粒尺寸和应变计算器

E.Kh.Mahmoud（马哈茂德）,M.R.Ebeid先生,Kaid硕士和M.G.S.阿里

讨论了微观结构（尺寸/应变）分析的简化计算机程序。考虑到NiO纳米粒子的各向同性和各向异性，研究了不同模型的兼容性。

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衍射成像就地双晶X射线单色器的特性

S.Stoupin公司,Z.刘,S.M.Heald公司,D.布雷和M.梅隆

快速衍射成像就地介绍并验证了高热负荷双晶单色器的特性。

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镁之间孪晶相关列匹配取向关系的表征和解释₂锡沉淀和镁基体

Z.-Z.石和张伟中

镁之间的两种新取向关系₂确定了锡沉淀和镁基体，它们表现出相互匹配的特征。用刻面中良好晶格匹配的概念解释了沉淀的形貌。

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掺钌同成分LiNbO的晶体生长_三晶体完整性和光学特性的研究

B.里斯科布,I.巴米克,S.Ganesamoorthy公司,R.巴特,N.维贾扬,K.Zimik公司,A.K.卡纳尔,G.巴加瓦纳拉亚纳和P.K.古普塔

未掺杂和掺钌的同成分LiNbO单晶_三采用提拉法成功生长。分析了掺钌晶体顶部和底部沿生长方向的结晶完整性和光学性能，以揭示Ru的浓度变化以及测量性能的相关变化。

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用X射线衍射测定喷镀镍基单晶高温合金中的残余应力

A.莫兰赛斯,费维尔先生,弗朗索瓦先生,N.Guel公司,S.Kruch公司,P.Kanouté和A.朗格特

用X射线衍射法测定了镍基高温合金喷镀单晶中的残余应力深度分布。回顾了一般变换的理论背景，并提出了优化采集时间和计算值准确性所需的程序。

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Rietveld改进的可靠结构数据通过约束一致性

A.O.德米特里恩科和I.S.Bushmarinov先生

提出了一种新的约束Rietveld精化质量标准，该标准估计了有效键精度，并考虑了模型和数据采集误差。

CCDC参考:1428622

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利用invariom数据库和一个新的分段刚体分析程序估算温度相关的各向异性氢位移

J.吕本,L.J.布尔希斯和B.Dittrich公司

提出了一种估算氢原子各向异性位移参数的新方法和新程序。根据分子轨道计算和中子衍射数据验证了结果。

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尿路结石从核到外周的成分和结构变化：综合红外光谱、扫描电子显微镜和粉末X射线衍射方法

P.查特吉,S.Pramanik公司和A.K.穆克吉

利用红外光谱、扫描电子显微镜和粉末X射线衍射分析了来自印度东部的五个人体肾结石从中央核心到外围的成分和结构变化。

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通过将数字图像相关应用于劳厄微衍射图像来确定偏弹性应变和晶格取向：增强的劳厄-DIC方法

F.G.张,O.卡斯特尔诺,M.博内特,J.佩蒂,J.B.马里洪和E.规划师

提出了一种基于数字图像相关和数值最小化的新方法，从一对劳厄衍射图像中提取偏弹性应变并设置校准参数。通过对合成图像的数值测试来评估新方法的效率。最后，将该方法应用于硅晶体变形的情况就地在四点弯曲下。

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单个太阳能电池纳米线的同时高分辨率扫描Bragg对比度和光学成像

J.沃伦廷,R.N.威尔克,M.奥斯特霍夫和T.Salditt公司

使用纳米聚焦硬X射线束和两个探测器，证明了单个太阳能电池纳米线的同时布拉格衍射和相干小角散射。

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通过压印槽绘制沉积金纳米粒子的形态变化图

S.V.罗斯,R.Döhrmann先生,R.盖尔克,Röhlsberger先生,K.施莱格,E.梅特瓦利,V.Körstgens公司,M.Burghammer先生,C.里克尔,C.大卫和P.Müller-Buschbaum先生

通过结合纳米束掠入射小角度X射线散射、成像椭偏仪和原子力显微镜，沿压敏粘合剂聚合物膜中压印的通道槽，解决了低于渗流阈值的梯度金层形态。这项研究可视为朝着纳米尺度表征这种复杂宏观弯曲纳米材料迈出的第一步。

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利用显式溶剂模型和快速傅里叶变换模拟生物大分子的溶液X射线散射

D.动力钳,J.杨和L.Lu先生

利用快速傅里叶变换计算溶液中生物大分子的小角度和近广角X射线散射轮廓。这种方法可以大大提高使用显式溶剂模型进行溶液散射建模的计算效率。

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用于小角度散射的优化针孔几何结构

A.瓦查

描述了小角度散射相机中三孔径准直系统的优化配置。

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在小角度中子散射衍射仪KWS-2上使用斩波器和飞行时间调整仪器分辨率

A.拉杜列斯库,N.K.Székely公司,S.Polachowski（波拉乔夫斯基）,M.Leyendecker先生,M.阿曼,J.布伊滕胡斯,M.德罗切纳,R.恩格斯,R.汉斯利克,G.凯默林,P.林德纳,A.帕帕吉安诺普洛斯,V.皮皮奇,L.威尔纳,H.弗里林豪斯和D.里希特

使用带有可变狭缝开口的双圆盘切碎器，配合速度选择器和飞行时间数据采集模式，在海因茨-迈尔-莱布尼茨中心尤利希中子科学中心的KWS-2 SANS衍射仪上，波长扩展Δλ/λ在2%到20%之间的可控变化已成为可能。

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结晶-非晶烯烃嵌段共聚物在溶液中的形态，用小角中子散射和显微镜表征

A.拉杜列斯库,G.戈里克,L.羁绊和D.里希特

通过针孔和聚焦小角度中子散射技术、亮场和交叉极化模式下的光学显微镜以及差示扫描量热法，对烯烃嵌段共聚物在稀溶液中形成的多级结构和层次形态进行了表征。

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环境参数变化对X射线束强度的影响：与时间相关的吸收校正

T.威格尔,T.雷赛刚,M.Zschornak先生,M.赫尔曼,M.罗森伯格,A.Wünsche公司,H.Stöcker先生和D.C.梅耶

环境条件的变化对X射线主束强度有着重要的影响。提出了气压、湿度和温度与X射线强度的相关性以及提高强度稳定性的校正方法。

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SrTiO的显微结构研究_三使用强大的新型X射线衍射表面映射技术的单晶和多晶硅

C.古古舍夫,R.标签,尤·朱达和A.克瓦希涅夫斯基

单晶SrTiO_三已被用作模型系统，以促进发展一种新的定性表征方法，用于无损识别大块单晶中的小角度边界。可靠地识别出下限在40到100〃之间的亚晶粒错向。

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氧化钛TiO的生长机理_x个还原钛酸钙CaTi₂哦₄表面

C.郭,H.Sheng先生,Y.马,L.Jin（李·金）,S.贾,H.郑,刘彦（Y.Liu）,J.Shi先生和J.Wang（王）

一氧化钛TiO的生长机理_x个关于还原钛酸钙CaTi₂哦₄采用电子衍射技术和高分辨率透射电子显微镜对表面进行了研究。

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Li原子无序_0.5镍_0.5锂掺杂引起的O薄膜：从X射线德拜-沃勒因子估算

A.杨,O.坂田,R.山内,L.S.R.库马拉,C.H.宋,Y.Katsuya先生,A.松田和吉本茂先生

室温外延锂的结构_0.5镍_0.5比较了O和NiO薄膜。利用X射线德拜-沃勒因子讨论并评估了原子无序的结构参数。

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胶体曲板的溶液散射：桶形瓷砖、卷轴和球形贴片

D.康斯坦丁

导出了一些弯曲粒子的定向平均散射信号的解析或半解析表达式。

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低能污染影响的经验修正

L.克劳斯,R.赫伯斯特·伊尔默和D.秸秆

描述了聚焦多层光学器件引起的低能污染对反射数据影响的经验修正，并与通过使用吸收远大于λ的3λ辐射的箔片进行衰减来避免这种污染的方法进行了比较。强调了电荷密度数据集的优点。

CCDC参考:1433805;1433806;1433807;1433808;1433809;1433810;1433811;1433812;1433813;1433814;1433815;1433816;1433817;1433818;1433819;1433820;1433821

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状态方程Pmmn公司NiSi相

O.T.主,A.R.汤姆森,E.T.H.Wann公司,I.G.木材,D.P.多布森和伏卡德罗

NiSi的室温状态方程Pmmn公司对称性和Ni₅₃硅₄₇在B20结构中，已使用金刚石压砧室测定为50 GPa。将状态方程与现有实验数据和从头算仿真。

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定向平面断层中电子衍射图样的解释

S.J.B.库尔兹,A.莱纽贝尔和E.J.Mittemeijer公司

以纳米晶粒{111}纤维织构Ni（W）薄膜为例，说明了定向平面断层存在时衍射数据被误解的高风险，并提出了正确解释衍射数据的分析。

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RHEED振荡相位的确定算法

Z.三村和S.L.杜达列夫

反射高能电子衍射（RHEED）强度振荡的相位直接从振荡的时间间隔到第二个最小值，或使用谐波分析进行评估。

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小角度X射线散射中多色性对粒子结构测定的影响

王伟（W.Wang）,E.V.Shtykova公司,V.V.沃尔科夫,G.Chang公司,L.Zhang先生,Y.Dong先生和P.刘

讨论了多色性对SAXS数据分析的影响。结论是，在无需去测量程序的情况下，以粉梁模式收集的SAXS数据可直接用于结构计算和模型重建。

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从X射线衍射CT数据中去除多个离群值和单晶伪影

A.瓦姆瓦克罗斯,S.D.M.雅克,M.Di Michiel先生,V.米德尔科普,C.K.伊根,R.J.塞尼克和A.M.比尔

提出了一种新的、简单有效的滤波方法来处理二维X射线衍射/X射线衍射CT数据中的单晶伪影。

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高压粉末X射线衍射一维探测器的优点

M.菲什,A.兰扎,P.Macchi公司和N.卡萨蒂

提出了一种从一维探测器获得具有精确强度的高分辨率高压粉末X射线衍射数据的简单方法，并成功地应用于求解L（左）-丝氨酸多晶型。

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21世纪的晶体学教育

圣格雷乌利斯,A.萨让特,P.莫克,J.斯通-桑伯格,T·J·斯奈德,W.卡明斯基,A.G.奥利弗,C.L.斯特恩,L.N.Dawe,D.A.里奇科夫,E.A.Losev公司,E.V.Boldyreva公司,J.M.坦斯基,J.伯恩斯坦,W.M.Rabeh先生和K.A.Kantardjieff

介绍了在研究生、研究生和中学环境中教授结晶学的方法和结果。这是一份基于MS92微型研讨会在蒙特利尔IUCr第23届大会和大会上提出的想法的扩展报告。

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使用基于序列和同源性的定性和定量描述符预测溶剂可及残留物的Logistic回归模型，并将其应用于区域完整的X射线结构学习集

R.尼泊尔,J.斯宾塞,G.博加尔,A.内杜努里,T.波尔曼,T.卡马特,E.钟,K.Kantardjieff,A.戈特利布和B.卢斯蒂格

本文描述了使用区域完整X射线结构学习集预测低聚物和非低聚物组中溶剂可及残留物的简单逻辑回归模型的开发、验证和应用。

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请再次重申：规范化者的教学介绍

M.内斯波洛

建议直观地介绍点和空间群的规范化器，以使初学者对这个概念及其在结晶学中的使用感到熟悉。

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双Voigt方法中的畴尺寸各向异性：一个扩展模型

D.电动机,F.戈茨·纽霍夫和J.纽鲍尔

提出了一种扩展的实现方法，用于细化各向异性畴形状，该畴形状由三轴椭球体、椭圆柱体和长方体近似而成，在双Voigt方法中对体积和面积加权或表面加权的表观晶粒尺寸进行了物理上正确的处理。在Voigt近似的应用范围内，各向异性尺寸效应可以在常见的多相Rietveld细化中以快速、稳健和参数有效的方式进行解释。

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