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应用
结晶学
国际标准编号:1600-5767

2015年4月发布

突出显示的插图

封面插图:(前景)由GaN核和InGaN壳组成的纳米线测量的一组互反空间地图。(背景)纳米线的扫描电子显微镜图像。由Stankevic提供等。 [J.应用。克里斯特。(2015),48, 344-349].

研究论文


J.应用。克里斯特。(2015).48,313-317
doi:10.1007/S160576767150000874
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均匀组分聚氨酯拉伸试验的小角度X射线散射监测显示,硬畴的半刚性准周期序列与聚合加成合成有关。

J.应用。克里斯特。(2015).48,318-333
doi:10.1107/S1600576715000941
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对Na进行了温度变化下的结构研究0.5K(K)0.5铌氧化物使用衍射技术和对称模分析方法。该材料经历了一系列三个相变:c(c)弹药2P(P)4毫米下午报告了在细化过程中使用对称自适应模式作为自由度的进展

J.应用。克里斯特。(2015).48,334-343
doi:10.1107/S1600576715000928
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介绍了一种在常规实验室源µCT系统上进行X射线衍射对比成像(CT)的精确投影模型。

J.应用。克里斯特。(2015).48,344-349
doi:10.1107/S1600576715000965

J.应用。克里斯特。(2015).48,350-356
doi:10.1107/S1600576715000813
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足够强的磁场可以通过减小峰值展宽来增强中子衍射的深穿透能力。

J.应用。克里斯特。(2015).48,357-364
doi:10.1107/S1600576715002447
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通过显微劳厄层析成像分析,获得了(i)固体氧化物燃料电池样品中NiO晶粒的深度分辨率图和(ii)Ge样品切片中偏应变的全张量。

J.应用。克里斯特。(2015).48,365-376
doi:10.1107/S1600576715001879
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开发了一种基于实验室的透射X射线衍射技术,用于测量加载过程中平行于加载方向的弹性晶格应变就地拉伸变形。

J.应用。克里斯特。(2015).48,377-385
doi:10.1010/S1600576715002113
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采用湿化学喷雾干燥法合成了均匀的MgO:SLT粉体,消除了其反晶缺陷,实现了高质量的MgO:SLT晶体生长。

J.应用。克里斯特。(2015).48,386-392
doi:10.1107/S1600576715002393
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颗粒陶瓷中的动态应变传播是经历快速热循环的工业材料失效的一个原因。提出了一种基于晶粒接触退化的机制来解释微应变的振荡性质。

J.应用。克里斯特。(2015).48,393-400
doi:10.1107/S160057671500240X
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非化学计量SrTiO采用不同的薄膜沉积方法制备了薄膜。研究了氧化物/硅树脂界面稳定性以及结晶起始温度的影响。

J.应用。克里斯特。(2015).48,401-408
doi:10.107/S1600576715002794
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在这项工作中,作者展示了能量分辨中子成像在研究固体氧化物燃料电池阳极支架中发生的两个重要现象方面的巨大潜力:加速蠕变和因施加应力而减少成核。

J.应用。克里斯特。(2015).48,409-417
doi:10.1107/S1600576715001338
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采用中子衍射线剖面分析方法,测定了轧制锆合金2板不同织构成分中的位错密度和主要滑移系布居。在样品的七个不同方向上记录了十四个衍射图案,并通过选择特定纹理的衍射轮廓来合成衍射图案。

J.应用。克里斯特。(2015).48,418-430
doi:10.1107/S1600576715001466
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建立了描述位错晶体衍射峰径向线展宽和摇摆曲线展宽的统一理论。结果表明,非局部应变张量的极分解比分离成对称和反对称张量分量更适合描述基本布拉格反射周围的强度分布。

J.应用。克里斯特。(2015).48,431-443
doi:10.1107/S160057671500254X
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EMBL(DESY,汉堡)高亮度P12同步加速器束线处的生物小角度X射线散射(BioSAXS)集成环境允许进行广泛的溶液散射实验。设计了自动化的硬件和软件系统,以确保数据收集和处理高效、精简和用户友好。

J.应用。克里斯特。(2015).48,444-454
doi:10.1107/S1600576715002204
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自组织TiO2有/无硅涂层的纳米管阵列是锂离子电池的模型阳极材料。使用飞行时间掠入射小角中子散射(TOF-GISANS)和小角X射线散射(GISAXS),以高度统计相关性确定此类纳米管阵列的形态参数,如纳米管半径、管间距离和孔隙率。

J.应用。克里斯特。(2015).48,455-463
doi:10.1107/S1600576715002770
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对Al–Mg–Si合金时效过程中β′′沉淀的生长进行了表征就地通过单晶上的小角度中子散射。测量了沉淀的长度、直径和数量密度。

J.应用。克里斯特。(2015).48,464-476
doi:10.1107/S1600576715003593
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定量X射线相位对比成像独特地提供了电子密度图方面的定量成像信息,从而可以测定软生物样品的质量和质量密度(“用光称重”)。在这里,使用相干X射线波导照明进行研究,得出冻干细菌内孢子的质量和质量密度值(芽孢杆菌spp.)。

J.应用。克里斯特。(2015).48,477-491
doi:10.1107/S1600576715002782
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利用多层膜理论和Penning–Polder理论,包括晶体各向异性,针对经向和矢向弯曲晶体的情况,给出了模拟衍射轮廓的方程及其在计算机代码中的实现。

J.应用。克里斯特。(2015).48,492-509
doi:10.1107/S1600576715002666
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采用多重反射掠入射X射线衍射(MGIXD)测定了机械处理钨和奥氏体钢表层的无应力和无应变点阵参数。对MGIXD结果提出了一种新的解释,并首次应用于测量作为穿透深度函数的层错概率。

J.应用。克里斯特。(2015).48,510-519
doi:10.1107/S1600576715004306
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本文详细介绍了在Python库中实现的用于高性能方位角集成的多核和多核设备的几何结构、峰值选取、校准和集成过程。

J.应用。克里斯特。(2015).48,520-527年
doi:10.1107/S1600576715002976
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结果表明,嵌入均匀基质中的稀组纳米颗粒的熔化和冻结温度只能通过小角度X射线散射(SAXS)技术进行实验测定。根据SAXS强度的温度依赖性分析,具有平均半径〈的稀铅纳米颗粒的熔化和冻结温度〉 = 16.1纳米,嵌入铅硼酸盐玻璃中,测定为580和433K、 分别是。


J.应用。克里斯特。(2015).48,528-532
doi:10.1107/S1600576715004732
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详细研究了基本禁带Si 200和Si 222反射与面内样品取向Φ和垂直于所用衍射仪衍射面的发散度的关系。结果对检测这些反射附近的层峰值具有重要影响。

J.应用。克里斯特。(2015).48,533-541
doi:10.1107/S1600576715003350
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通过在垂直布里奇曼技术(VBT)中引入缩颈工艺,通过一个专门设计的VBT安瓿成功地生长出了结晶完美的大块硒化铋单晶。评估了其结构、晶体完整性和层状性质,测量了热电参数,发现与文献中报道的相比,其优值显著提高。首次进行纳米压痕分析。

J.应用。克里斯特。(2015).48,542-549
doi:10.1107/S1600576715003490
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提出了一种在白束X射线荧光全息术中校正基质效应的方法。

J.应用。克里斯特。(2015).48,550-557
doi:10.107/S1600576715004161
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晶体结构N个,N个将分子几何优化和晶体结构预测分析与标准衍射技术相结合,求解了′-亚甲基双丙烯酰胺。在数千个预测排列中选择最佳结构,将所有计算图案与实验室粉末X射线衍射数据进行比较,然后使用Rietveld方法进行细化。这种方法可以克服影响单晶数据的孪晶问题,最终证实了预测模型。

J.应用。克里斯特。(2015).48,558-564
doi:10.1107/S1600576715003775
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给出了对称嵌套Kirkpatrick–Baez反射镜的全面描述和光线追踪模拟。模拟了镜子的正确对准过程、形状和多层涂层。

J.应用。克里斯特。(2015).48,565-577
doi:10.1107/S1600576715002964
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给出了多面体的散射函数,包括规则的、半规则的、截断的、凹的和星状的。

J.应用。克里斯特。(2015).48,578-581
doi:10.1107/S160057671500432X
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已经开发了一种新的环境控制单元,用于当前的单晶衍射仪设备,这为就地非环境大气和压力下的单晶实验。本文介绍了该电池的设计和制造,以及使用该装置进行的案例研究的结果。

短通信


J.应用。克里斯特。(2015).48,582-584
doi:10.1107/S1600576715002757
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对于大颗粒样品,最好在相同的空间位置进行成对的中子衍射测量,但要绕标距体积的几何中心旋转180°,以最大限度地减少标距体积内颗粒随机定位产生的散射。

J.应用。克里斯特。(2015).48,585-588
doi:10.1107/S1600576715004446
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提出了一种计算底层三维晶格任意晶面上二维基元向量的简单算法。

计算机程序


J.应用。克里斯特。(2015).48,589-597
doi:10.1107/S1600576715001648
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程序EFRESOL(电子决议)计算任意完整性衍射数据集的有效分辨率。

J.应用。克里斯特。(2015).48,598-603
doi:10.1107/S1600576715002319
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质量2.0是的新版本高通公司.的主要新颖性等于2.0也可以查询免费可用的数据库POW_COD,该数据库是从晶体学开放数据库中包含的结构信息开始构建的。

J.应用。克里斯特。(2015).48,604-607
doi:10.1107/S1600576715001788
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介绍了一种利用X射线面积探测器的数据重建和可视化三维互易空间中漫散射的软件。

实验室札记


J.应用。克里斯特。(2015).48,608-612
doi:10.1107/S1600576715001752
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在实验室小角度X射线散射装置中实现了高互易空间分辨率掠入射超小角度X光散射测量通过延长准直狭缝系统之间的距离和样品到探测器的距离。

J.应用。克里斯特。(2015).48,613-618
doi:10.1107/S1600576715003465
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介绍了布拉格-布伦塔诺聚焦几何中直线探测器对粉末衍射信号的影响。制定了如何限制分辨率分解效果的方法。

书评


J.应用。克里斯特。(2015).48,619
doi:10.1107/S1600576715004525
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