（IUCr）应用晶体学杂志第39卷第3部分，2006年6月

多分散囊泡的形状因子分离方法

J.潘瑟,S.克鲁格,C.P.亚当斯和J.卡萨拉斯

将拉普拉斯变换方法与分离形状因子（SFF）近似相结合，得到具有不同形式的膜散射长度密度分布的多分散球形囊泡的形状因子表达式。SFF近似值是根据精确的形状因子进行测试的，这些形状因子已经在尺寸分布上进行了数值积分，并且表明可以准确地表示典型囊泡尺寸和膜厚度的囊泡形状因子。

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X射线粉末衍射中仪器函数的计算

A.D.祖夫

介绍了一种计算粉末衍射中仪器函数的新方法。

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多维扭角空间中构象族搜索的简单方法

F.帕维尔西克和J.万科

中构象空间的一种研究方法n个尺寸已经确定。该方法用于计算构象族的偏好，以便进行模型构建。

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用衍射法测量单晶样品中的应力/应变

H.闫和I.C.诺扬

在对称Bragg几何体中使用狭缝或基于CCD的光学元件测量的弯曲Si单晶条的衍射轮廓，除了初级004反射之外，还包含次级“幻影”峰。这些动态衍射伪影导致从004个峰的角度位置计算的应变出现误差；讨论了消除/最小化此类错误的可能方法。

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显微镜倾斜式三维双折射成像。一、单轴晶体

L.A.Pajdzik公司和A.M.格雷泽

描述了一种适用于双折射成像的显微镜倾斜台的研制，从而能够获得单轴晶体的精确三维双折射信息。

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微孔晶体中孔体积、孔形状和扩散路径的测定

H.库佩斯,F.利博和A.L.斯佩克

原始选项SOLV公司程序的铂主要致力于有机结构的研究，现已扩展到微孔无机晶体的研究。

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同步辐射粉末衍射仪在聚焦光学存在下的仪器分辨率函数

F.戈佐,L.De Caro公司,C.贾尼尼,A.瓜里亚尔迪,B.施密特和A.普罗迪

给出了一个简单的解析表达式，该表达式允许我们在有聚焦光学的情况下模拟同步辐射粉末衍射仪的仪器分辨率函数。此外，还提供了该模型有效性的实验证据。

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由应变极图确定多晶材料中平均取向相关弹性应变和应力的直接方法

J.V.伯尼尔和M.P.米勒

本文提出了一种直接从衍射应变极图获得多晶材料中平均取向相关弹性应变/应力的方法。由于该过程（称为应变极点图反演）的固有不确定性，通过满足一个适定的辅助问题来选择试探性解决方案，其中施加条件控制来解决鲁棒性和物理相关性问题。

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晶体化学的几何参数化P（P）63/米磷灰石。二、。结晶-化学Rietveld精化的精度、准确性和数值稳定性

P.H.J.Mercier先生,Y.Le页面,P.S.惠特菲尔德和L.D.米切尔

晶体化学参数P（P）6_三/米通过最小二乘法直接提取的磷灰石比通过分析标准Rietveld细化结果获得的磷灰岩精度高近一个数量级，并且与单晶结果更加一致。这两种细化的可比数值稳定性是通过正规方程最小二乘矩阵的奇异值分解来评估的。

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基于微聚焦同步辐射X射线技术的集成针形二维和三维铁电电容器的微观结构分析

N.梅努,Ch.Muller先生,枸杞属,R.巴雷特,J.G.利索尼,M.Schwitters先生和D.J.沃特斯

采用微聚焦同步辐射X射线荧光和衍射相结合的原始方法，分析了集成针形二维和三维铁电电容器的微观结构特征。以0.2µm的步长扫描各种电容器阵列，同时获取荧光光谱和衍射图案，以便分别获得构成电容器的薄膜的化学和晶体学映射。

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利用X射线粉末衍射和傅里叶变换红外技术对生物磷灰石和合成羟基磷灰石的结构和微观结构进行表征

S.Chakraborty公司,S.袋子,S.Pal公司和A.K.穆克吉

四种来源于人类、山羊和兔子的生物磷灰石和人类牙齿，以及一种合成羟基磷灰石通过利用粉末XRD和FTIR技术对微波辐射进行了分析。Rietveld分析表明，所有生物磷灰石中的磷酸盐离子被碳酸盐离子部分替换。

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胰岛素微晶的粉末衍射和多元数据分析表征

M.诺尔曼,K.Stáhl公司,G.施勒克比耶和S.Al-Karadaghi公司

利用X射线粉末衍射对12种胰岛素微晶制剂进行了表征。通过主成分分析可以直观地看出多态性之间的差异和相似性。

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X射线应力因子的对称性和转换行为

B.奥尔特纳

所谓的X射线弹性因子F类_ij公司(φ, ψ, 香港特别行政区)被证明具有二阶张量的所有性质。这导致了一些有助于应用F类.

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用大采样体积重建下伏剖面的反褶积方法

Y.-S.熊和P.J.威瑟斯

提出了一种基于统计学习技术的衍射测量反褶积方法。该方法允许从噪声测量中预测卷积和潜在函数，此外还提供预测不确定性的估计，即误差条。

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通过低温冷却跟踪反射与地形

J.J.洛夫莱斯,C.R.墨菲,R.帕尔,K.布里斯特和G.E.O.Borgstahl公司

收集了蛋白质晶体在室温和低温下的几次反射地形图。在低温下，随着衍射点周围背景的增加，整体原始畴结构保持不变，但处于破碎状态，镶嵌性显著增加。

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层状结构聚合物薄膜的掠入射小角度X射线散射——畸变波玻恩近似下的散射截面

P.布希,M.Rauscher先生,D.-M.微笑,D.波塞尔特和C.M.帕帕达克斯

在畸变波玻恩近似框架下，计算了薄支撑介观结构聚合物薄膜掠入射小角散射的散射截面。考虑了平行和垂直层状取向的两种情况。

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X射线衍射法检测具有一维和二维弯曲（111）平面的硅片

H.奥田,K.Nakajima公司,K.藤原和S.Ochiai公司

用X射线衍射法对高温变形为圆柱形或半球形的Si（111）晶片进行了研究。ω扫描观察到的333个峰移表明，在塑性变形后，（111）平面相对于具有良好晶体质量的表面保持了它们的关系。

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自动优化初始结晶条件的程序

T.本·哈吉·阿卜杜拉蒂夫和F.科齐尔斯基

描述了一个图形用户界面，用于定义一系列常规优化蛋白质结晶的结晶条件。

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水银：晶体结构的可视化和分析

C.F.麦克雷,P.R.埃德金顿,P.McCabe先生,E.Pidcock公司,G.P.屏蔽,R.泰勒,M.托勒和J.van de Streek（J.范德斯特雷克）

中的新功能水银晶体结构可视化工具包括显示多种结构、原子位移椭球体、模拟粉末图案和预测形貌、改进对图形显示的控制，以及在表格和电子表格中显示数据的选项。

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SVD诊断，一个诊断Rietveld细化数值条件的程序

P.H.J.Mercier先生,Y.Le页面,P.S.惠特菲尔德和L.D.米切尔

这里开发的奇异值分解工具用于评估Mercier工作中描述的晶体和晶体化学细化类型的可比较数值稳定性等。[J.应用。克里斯特。(2006),39，369–375]对于排除有问题的Rietveld改进具有普遍适用性。

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涟漪：收集和分析数字地形序列的程序

J.J.洛夫莱斯和G.E.O.Borgstahl公司

已创建数字地形数据采集和分析软件。

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镜面反射率数据的晶体信息文件

A.范德利和I.D.布朗

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J.应用。克里斯特。(2006).39,469-471

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发行内容

2006年6月发行

研究论文

多分散囊泡的形状因子分离方法

X射线粉末衍射中仪器函数的计算

多维扭角空间中构象族搜索的简单方法

用衍射法测量单晶样品中的应力/应变

显微镜倾斜式三维双折射成像。一、单轴晶体

微孔晶体中孔体积、孔形状和扩散路径的测定

同步辐射粉末衍射仪在聚焦光学存在下的仪器分辨率函数

由应变极图确定多晶材料中平均取向相关弹性应变和应力的直接方法

晶体化学的几何参数化P（P）63/米磷灰石。二、。结晶-化学Rietveld精化的精度、准确性和数值稳定性

基于微聚焦同步辐射X射线技术的集成针形二维和三维铁电电容器的微观结构分析

利用X射线粉末衍射和傅里叶变换红外技术对生物磷灰石和合成羟基磷灰石的结构和微观结构进行表征

胰岛素微晶的粉末衍射和多元数据分析表征

X射线应力因子的对称性和转换行为

用大采样体积重建下伏剖面的反褶积方法

通过低温冷却跟踪反射与地形

层状结构聚合物薄膜的掠入射小角度X射线散射——畸变波玻恩近似下的散射截面

短通信

X射线衍射法检测具有一维和二维弯曲（111）平面的硅片

计算机程序

自动优化初始结晶条件的程序

水银：晶体结构的可视化和分析

SVD诊断，一个诊断Rietveld细化数值条件的程序

涟漪：收集和分析数字地形序列的程序

笔记和新闻

镜面反射率数据的晶体信息文件

即将召开的会议和短期课程

特殊问题

会议