（IUCr）应用晶体学杂志第38卷第1部分，2005年2月

J.应用。克里斯特。(2005).38,1-29
doi:10.1107/S0021889804029516

多晶薄膜和表面区域的X射线衍射应力分析

U.韦尔泽尔,J.利戈特,P.拉帕特,A.C.Vermeulen公司和E.J.Mittemeijer公司

本文综述了薄膜和表面区域的衍射应力分析方法。宏观弹性各向同性的情况和对各向异性试样进行了处理。

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多相合金立方相单晶弹性常数的测定：X射线衍射测量和逆尺度过渡模型

圣·弗雷乌尔,D.格洛根,弗朗索瓦先生,A.佩罗内和R.Guillén

为了从多相多晶的分析中确定立方相的单晶弹性常数，提出了一种新的方法。该逆方法基于三尺度自持微机械模型与衍射晶格应变测量的耦合，包括就地纯弹性载荷。

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蛋白质和小分子电荷密度精制方法的研究进展MoPro公司

C.杰尔施,B.断头台,A.拉各特和C.勒科姆

用程序对大分子和大分子的结构和电子密度进行精细化MoPro公司，描述了有用的约束、约束、新功能和应用示例。

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布拉格峰分布和纳米颗粒尺寸对实际空间对分布函数的影响

I.-K.Jeong先生,M.J.格拉夫和R.H.赫夫纳

利用合成粉末衍射数据讨论了仪器分辨率函数和纳米颗粒尺寸对从实际空间对分布函数获得的结构信息的影响。

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“静态”高分辨率X射线衍射仪

P.F.费斯特

本文介绍了一种新的衍射仪，它不需要运动部件，几乎可以瞬间收集高分辨率X射线数据。给出了InGaAs/GaAs和SiGe/Si多层结构的示例数据。

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在温暖的大海捞针：红外成像用于定位回路中的冷冻晶体

E.H.斯奈尔,M.J.范德沃尔德,M.D.米勒和A.M.执事

演示了使用红外成像定位安装在100K氮气流中低温冷却的低温回路中的晶体。

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定向二维圆柱阵列自组装纳米复合膜的SAXS：一种先进的评估方法

W.Ruland公司和B.涂抹

研究了具有定向二维柱状六边形介观结构薄膜的X射线等角散射。

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纳米体积蛋白质结晶实验中扩散对流扰动的减少

D.C.卡特,P.罗兹,D.E.麦克雷,L.W.塔里,D.R.Dougan博士,G.斯奈尔,E.阿布拉和R.C.史蒂文斯

实验观察和计算模拟表明，纳米体积蛋白质结晶液滴中的扩散-对流扰动显著减少，导致衍射和镶嵌测量的晶体质量提高。

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用摇摆曲线成像研究半导体晶片中位错的分布和Burgers矢量

D.吕巴特,C.法拉利,P.米库利克,P.佩诺,L.Helfen公司,N.威尔第,D.科雷塔尔和T.Baumbach公司

最近发展了一种称为“摇摆曲线成像”（RCI）的方法，用于以高空间分辨率显示大晶体（如半导体晶片）中的晶格缺陷。本文对该方法进行了扩展，通过该方法可以量化大规模样品（半导体晶片晶体）中的位错密度，并用仪器简单的方法测定其在样品表面的变化。

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正四面体的相交分布

西卡列洛

正四面体的相交分布在整个距离范围内具有代数形式。

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用于结构确定的混合蒙特卡罗搜索算法的特征

A.J.马克瓦德森,K.Shankland公司,W.I.F.大卫和G.迪迪克

借助分布式计算系统，对用于粉末衍射数据晶体结构确定问题的混合蒙特卡罗采样算法的控制参数进行了表征。

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AISI 300型钢中的贝氏体和应力诱发马氏体：用Rietveld方法对微观结构的X射线衍射研究

P.Sahu先生

描述了AISI 300型钢相变过程中微观结构的X射线衍射研究。

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用线性判别分析自动检测电子密度图中的二硫化物桥

T.R.Ioerger公司

在电子密度图中自动识别二硫键的能力对蛋白质晶体学家和自动建模程序都很有用。描述了一种基于线性判别分析的识别未解释地图中二硫键的计算方法。

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单层脂质泡的X射线散射

M.R.Brzustowicz先生和A.T.Brunger公司

提出了一种改进的小角度X射线散射法，用于测定单层囊泡中不对称脂质双层结构。

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硅气凝胶中钴沉淀的奥斯特瓦尔德成熟？超小角度X射线散射研究

A.布劳恩,J.伊拉夫斯基,B.C.邓恩,P.R.杰米安,F.E.哈金斯,E.M.埃林和G.P.哈夫曼

硅气凝胶被钴掺杂、还原，并用超小角度X射线散射进行了研究q个空间，覆盖5至3000℃的真实空间，暴露所有气凝胶的微孔、中孔和大孔。

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Y和N掺杂氧化锆的缺陷结构

I.凯泽·比绍夫,H.博伊森,F.弗雷,J.-U.霍夫曼,D.霍尔温和M.勒奇

利用中子散射数据对Zr–Y–O–N体系中四元氧化锆单晶的结构无序性进行了精细化。

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现场负载型金属催化剂中金属颗粒的异常小角度X射线散射。一、理论

H.布伦伯格,D.哈格曼,J.古迪斯曼和K·D·芬克尔斯坦

对于三相系统，显示了在什么条件下，两个不同X射线波长的散射之间的差异是两相系统的散射。根据在负载的金属催化剂上的这种测量，提取金属颗粒的粒度分布。

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Shannon信息作为配位多面体畸变的度量

E.拉利克

基于Shannon熵，提出了一个键阶的对数函数，作为对键阶畸变的度量M（M）O（运行）_n个多面体，并被发现与M（M）O（运行）₆MoO的八面体_三和其他过渡金属化合物。

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利用X射线衍射数据对钼矿和方解石粉末的March和广义球谐择优取向模型进行比较评估

H.Sitepu公司,B.H.奥康纳和D.李

使用钼矿（MoO）的X射线粉末衍射数据对March模型和择优取向的广义球谐描述进行比较评估的结果_三)方解石表明，与March模型相比，广义球谐描述通常提供更好的米数图形。

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硒化蛋白质晶体中的X射线吸收、折射和共振散射张量：对大分子晶体学数据收集策略的启示

G.布里科内,S.C.卡佩利,G.埃文斯,A.米施勒,P.帕蒂森,P.Roversi公司和M.Schiltz先生

X射线光学和共振散射张量是从硒化蛋白晶体上的偏振荧光测量得到的。这些张量的知识允许在反常衍射实验中优化相位信号。

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有序（Al，Ga）N层镶嵌结构的分析

L.柯斯特,K.M.巴甫洛夫,S.T.Mudie公司,V.I.普内戈夫和N.赫雷斯

利用高分辨率X射线衍射（HRXRD）倒谱空间映射研究了生长在（0001）蓝宝石上的（Al，Ga）N层的镶嵌结构。评估遵循两条路径：（i）基于威廉姆森-霍尔图的程序和（ii）基于统计衍射理论的新方法。

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使用样条系数对部分结构因子进行似然加权

K.Cowtan公司

描述了一种基于分辨率平滑样条函数拟合的不完整和不精确模型结构因子加权方法。此方法用于研究数据有限时问题的稳定性。

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复合氧化物的Rietveld织构分析：多相Bi2223超导和Co349热电织构陶瓷的中子和X射线衍射表征

E.吉尔莫,D.查泰格,J.名词,R.Funahashi先生,S.Horii公司和B.乌拉迪亚夫

采用Rietveld织构分析方法对多相超导铜酸盐和热电钴酸盐的织构进行了表征。化合物的各向异性与物理性质有关。

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硅（001）表面有序介孔膜的X射线和电子衍射表征

P.-H.刘,K.-J.赵,X.-J.郭,K.-Y.黄,Y.-R.李,C.-W.Cheng先生,M.-S.Chiu先生和S.-L-Chang公司

在硅片上的介孔二氧化硅薄膜中发现了二维非中心、二维中心矩形柱状结构和三维四方孔结构共存。

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抗体初始核酸和蛋白质的直接结构溶液：互易空间和实空间方法

K.乔杜里,S.巴塔查里亚和穆克吉

描述了一种用于求解大分子结构的混合倒数空间-实空间方法。该方法在重新确定从头算六种核酸和蛋白质的结构，数据分辨率高达1.7º。

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CURVIS公司：研究和分析晶体结构和相变的程序

S.皮奥托和R.奈斯珀

CURVIS公司是一个计算机程序，能够可视化晶体结构和双曲面，并能够计算和表示它们在相变期间的曲率。

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COMPACK公司：利用距离识别晶体结构相似性的程序

J.A.Chisholm先生和S.马瑟韦尔

提出了一种比较晶体结构的方法，以确定分子堆积环境中的相似性。

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瓦尔托波：从实验电子密度测定原子和分子性质的程序

R.比安奇和A.福尼

一个新程序，瓦尔托波介绍了用精确的X射线衍射数据测定静电性质和用分子中原子的量子理论分析实验电子密度的方法。

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FINDSYM公司：识别晶体空间群对称性的程序

H.T.斯托克斯和D.M.哈奇

该程序的目的是识别空间群对称性，并在标准设置下给出原子的晶格参数和Wyckoff位置，无论原始信息是在什么设置下给出的。

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半导体的X射线散射

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2005年作者笔记

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J.应用。克里斯特。(2005).38,246-248

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