自1912年马克斯·冯·劳厄（Max von Laue）及其团队（W.Friedrich和P.Kniping）首次用X射线照射硫酸铜和闪锌矿晶体以来，晶体的准确定向一直是一项重要活动。如今的反向反射技术与九十年前基本相同。改变的是计算机能力的大幅提高，这是我们在实验室或家中使用台式计算机时所享受的。
前言由J.L.Amorós教授撰写，该教授与作者来自同一个系：马德里奥托诺马大学材料物理系。其中有两章介绍X射线衍射和反向反射劳厄技术。另外两章涉及计算程序和软件的开发。最后一章比较了所有七个晶体系统中的实验劳厄模式和模拟，随后是一些有用的附录、参考文献和主题索引。（但是，可以通过包含更多与计算机程序相关的关键字来改进索引，例如“检测级别”和“饱和度级别”。）
这本书是从实验室X射线源的角度写的[特别是长时间暴露（2-3小时）低于20千伏的钼辐射]，但我认为同步辐射的用户也会觉得它很有用。有GaSb（立方）、KH晶体劳厄模式指数化的工作示例2人事军官4（四方），KTiOPO4（正交），（CH2全日空航空公司2首席运营官）三H（H）2SO公司4（TGS）（单斜）、ZnO（六角形）、LiNbO三（菱形）和Na2W公司4O（运行）13（三斜）。在每种情况下，都会呈现一张未知方向的劳厄照片，选择三到四个重要的劳厄点(x个, 年)测量坐标并记录晶体到薄膜的距离。将这些数据放入算法中，得到各种解。还可以显示模拟劳厄照片。给出了角度组合以确定晶体的方向，从而使X射线沿选定的对称轴入射；文中给出了劳厄照片的示例及其在这些设置下的计算机模拟。我试着模拟劳厄拍摄的我最喜欢的物质钻石的照片，但我只取得了部分成功：由于某种未知的原因，我无法显示任何均匀的反射。
遗憾的是，这里有一些印刷错误，英语还远远不够完美，但在大多数情况下，这是可以理解的。我发现文本（点大小）和许多图表小得令人不安。由于视力不好，我除了戴着阅读眼镜外，还不得不用一个手镜来阅读数字中更精细的文字。页面大小将受益于面积的两倍。
真正的考验是我是否应该向我的学生推荐这本书和软件。年轻一代显然会比我更容易使用计算机程序，但我认为他们也会因为无法轻易纠正错误而感到沮丧。如果有人在单位电池，没有明显的方法可以避免再次输入全部内容。能够快速模拟Laue模式是一项真正的资产，我通过对各种参数进行小调整学到了很多。因此，带着一些疑虑，我推荐这本书。
