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应用
结晶学

第33卷| 第1部分

国际标准编号：1600-5767

2000年2月发行

突出显示的插图

封面插图：八面体PF的再定向途径₆KPF中的阴离子₆，由进化算法计算。由K.Knorr（基尔大学，地球景观-矿物学）和Fritz Mädler（HMI Berlin）提供。

社论

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的新格式和整体外观应用晶体学杂志

编辑。

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研究论文

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氧对硅单晶结构完整性影响的高分辨X射线衍射和红外吸收研究

K.Lal公司,R.R.拉马南和G.巴加瓦纳拉亚纳

浮区法（FZ）生长的硅晶体的晶体完整性通常略低于直拉法（Cz）生长的晶体，后者具有较高的氧含量。高分辨率X射线衍射研究和红外吸收测量表明，如果通过退火使FZ硅晶体中的氧含量增加，则从1.3×10¹⁷至13×10¹⁷ 原子厘米 $^{-3}$ （Cz晶体的典型值），FZ晶体的完美度显著增加，接近Cz晶体。

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透射电子显微术中计算机辅助晶体学分析的新进展

本文介绍了一个基于TEM中斑点和菊池电子衍射图样的在线晶体取向测量的计算机程序。该程序有助于完整表征晶格缺陷，如位错和晶界。

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X射线衍射对高应力颗粒区残余应力评估的贡献

V.亨利,J.M.斯普劳尔和H.米肖

提出了一种分析高应力梯度区力学和冶金状态的新策略。对测量和处理方法进行了调整，并建立了X射线源的完整模型，以考虑局部强度分布。

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用面阵探测器系统校正X射线漫散射实验中的样品吸收

S.Scheidegger公司,M.A.埃斯特曼和W.斯特勒

针对二维面积探测器系统和宽漫散射现象，实施并测试了样品吸收校正方法。通过同步辐射衍射实验和数值计算，研究了实验参数对像素级吸收校正精度的影响。

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用六圈κ衍射仪进行三光束干涉测量

G.托基尔森,H.B.拉森,R.H.马蒂森和F.莫

概述了一种用于测量三光束干涉轮廓的特定六圆κ衍射仪的可行性。

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色散反常衍射定量分析的积分程序

V.法夫雷·尼科林,S.Bos公司,J.E.洛伦佐,P.边框,W.谢泼德和J.-L.霍多

色散衍射允许在能量范围内同时测量衍射强度。开发了这种方法，并描述了连续（DAFS-like）和离散（MAD-like）实验中色散衍射图像的定量积分过程。

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30Li的热行为研究₂O·70TeO₂X射线动态观察玻璃

T.谷口,井上春树,三井县T.Mitsuhashi和A.努奎

30Li的动态结构变化₂O·70TeO₂玻璃主要由就地高温X射线衍射。阐明了亚碲酸盐锂在高温下的相变，包括α-Li之间的可逆变化₂Te公司₂O（运行）₅和β-Li₂Te公司₂O（运行）₅.

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多晶的X射线衍射研究第页-氯硝基苯

C.A.梅里莱斯,J.F.施耐德,Y.P.马斯卡伦哈斯和A.H.布鲁内蒂

粉末状1-Cl-4-NO的X射线衍射图谱₂-为了表征两种不同相的结构，在不同温度下测量了苯。

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通过高分辨率粉末衍射测定分子结构的准确性。以下示例米-氟苯甲酸

P.帕蒂森,K.D.克努森和A.N.惠誉

证明了仅使用X射线粉末数据就可以确定任意位置轻原子的原子坐标的准确性。将结果与同一化合物的单晶研究结果进行了比较。

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钯的Bragg定律以外的纳米粉末衍射分析

Z.Kaszkur先生

提出了基于模拟的纳米粉末衍射分析工具。

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α-Si的晶体结构细化_三N个₄利用同步辐射粉末衍射数据：无偏细化策略

α-氮化硅（Si）的晶体结构_三N个₄)利用同步辐射粉末衍射数据，通过Rietveld方法进行了精细化。研究了使用新的权重函数进行最小二乘拟合的细化过程，并导出了无偏细化过程的指导原则。

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经典近似下所有劳厄群的多晶体残余应力引起的衍射位移

北卡罗来纳州波帕

在Voigt和Reuss近似下导出了表达式，描述了各向同性多晶体中弹性应变引起的各向异性衍射线位移。这些表达式适用于Rietveld程序，对于不同的劳厄组是不同的。

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衬底上薄层的X射线衍射分析工具：衬底峰去除法

J.-D.卡明加,R.德赫兹,泰赫·德·凯泽和E.J.Mittemeijer公司

提出了一种方法，利用对未覆盖衬底的单独测量，从存在薄层和衬底重叠峰的衍射图案中去除衬底峰。结果表明，该方法对工具钢基板上沉积的TiN层产生了良好的效果。

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样品几何形状对轻水非相干小角散射的影响

F.Carsughi公司,R.P.五月,R.普伦特达和J.萨伦

结果表明，在不同样品与光束尺寸比的情况下收集的光水的散射强度作为样品厚度的函数存在很大差异。特别地，考虑了小于和大于单位的比率，并对结果进行了讨论，并与蒙特卡罗模拟进行了比较。

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用于SANS机器的三对晶体双单色器：蒙特卡罗模拟研究

V.K.阿斯瓦尔,J.V.乔希,P.S.戈亚尔和A.V.Pimpale公司

本文给出了小角中子散射机双晶单色仪系统分辨率和强度的蒙特卡罗计算。讨论了这种单色器与现有单色器相比的相对优点。

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硫代没食子酸银光学活性的起源

J.埃克塞巴里亚,C.L.Folcia公司和J.奥尔特加

AgGaS的双折射和光学活性₂已使用高精度通用旋光仪测定。将所得数据与前人的工作进行了比较，并讨论了光学性质与晶体结构之间的关系。

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X射线反射率实验中仪器分辨率的研究

D.Sentenac公司,A.N.沙拉吉诺夫,A.费拉和W.H.de Jeu先生

给出了X射线反射率实验仪器分辨率函数的一般形式。

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聚焦单色仪中子粉末衍射中的仪器线型

A.D.斯托伊卡,波波维奇和W.B.Yelon（W.B.耶伦）

高斯线型和Caglioti轮廓函数的假设使得在全图细化中具有良好的拟合质量，这不仅适用于传统仪器，也适用于聚焦仪器。通过使用双重累积函数逼近工具线形状，拟合质量得到了改善。

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弯晶三轴中子光谱中的位置敏感分析（准弹性散射情况）

A.D.斯托伊卡,波波维奇,W.B.Yelon（W.B.耶伦）和R.柏林

分析了弯曲理想晶体在具有位置敏感探测的三轴中子光谱中的应用。通过散射中的聚焦与多层分析仪的“厚度聚焦”相结合，可以实现高分辨率下的高强度。

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利用高能同步辐射精确测量结构系数：对铜铜矿的测试₂O（运行）

T.李普曼和J.R.施耐德

测量了铜矿、铜的结构因子₂O、使用100 keV同步辐射，精确度允许完全多极精细化。

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低温晶体学论文

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挥发性溶剂透析生长蛋白质晶体的低温冷却技术

E.J.费尔南德斯,A.约阿奇米亚克和E.洛利斯

本文描述了一种基于24孔结晶板透析适配器的低温冷却方法，该方法允许更容易地转移晶体，并降低机械损伤风险。

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短通信

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制备斩银涂层以提供低到中角度衍射校准

T.N.布兰顿,C.L.巴恩斯和M.莱伦塔尔

制备了具有高度择优取向的斩银样品。多个（0 0我)用常规实验室X射线衍射仪很容易观察到衍射峰（0 0 1）到（0 0 48）。

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计算机程序

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嚼：高分辨率高分子结构的相精细化程序

D.A.兰斯,R.H.祝福和G.D.史密斯

描述了一个用于高分辨率大分子结构的相位细化程序，该程序可以在检查映射以查看其与结构模型的拟合程度之前，减小初始结构解的平均相位误差。

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顶部蛋白质结构比较和相似性搜索的新方法

为了便于蛋白质的三维结构比较，已经开发了用于在数据库中进行比较和搜索与蛋白质结构相似性的软件。

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3月X日：一种新的全粉末打印适配程序

Y.H.Dong先生和P.斯卡迪

3月X日可用于单相和多相样品的无约束剖面拟合（模式分解）或整个粉末模式的约束建模（Pawley方法）。

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书评

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结晶仪器

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新的商业产品

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新型低温蒸汽冷却器

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国际结晶学联合会

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作者须知

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J.应用。克里斯特。(2000).33,197-199

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即将召开的会议和短期课程

特殊问题

X射线衍射和成像

小角度散射

X射线衍射显微镜

会议

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