应用晶体学杂志第32卷第4部分，1999年8月

J.应用。克里斯特。(1999).32,579-589
doi:10.1107/S0021889899000618

小角度涂抹强度尾翼的直接分析。一、总体结果

西卡列洛和R.索布里

讨论并数值分析了小角度散射弥散强度的渐近主导项。实际中的弥散振荡贡献与理想狭缝弥散振荡的贡献一致。

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小角度涂抹强度尾翼的直接分析。二、。应用

西卡列洛和R.索布里

通过对涂抹的小角度X射线强度的尾部分析，获得了两种三嵌段共聚物的形状和粒径。在其中一个样品中，发现颗粒被组织成致密的硬球流体。

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用最大熵法从尺寸变宽的X射线衍射剖面确定柱长分布

N.阿姆斯特朗和W.Kalceff公司

本文讨论了双重最大熵法在确定样品轮廓和微晶尺寸分布方面的应用，以及根据尺寸增强的X射线衍射轮廓确定其相应的不确定度。使用模拟尺寸加筋剖面来演示该方法的应用。

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4S+2D六圆衍射仪的角度计算

H.你

推导了“4S+2D”六圆X射线或中子衍射仪的角度计算公式。在实验室参考系中，使用四个样品定向和两个探测器定向自由度来控制散射矢量和参考矢量。

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多晶体中子衍射法测量单晶弹性常数

C.J.霍华德和E.H.基西

推导了多晶材料的衍射弹性常数与正交和高对称性晶体系统的单晶弹性常数之间的关系式。结果表明，这些表达式可用于从多晶体的测量中提取单晶弹性常数，或者，也可用于通过比较测量和计算的衍射弹性常数来了解多晶体样品中的应力-应变状态。

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布拉格-布伦塔诺几何粉末衍射中作为卷积的平谱效应

T.伊达和基穆拉

研究了布拉格-布伦塔诺几何粉末衍射术中平谱效应的数学公式。

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同步辐射源角色散粉末衍射仪分辨率-强度平衡的优化

B.格拉布乔夫和A.蒂尔齐乌

导出了角色散粉末衍射仪的独特分辨率函数，该函数经过适当参数化，可适用于该仪器的任何多晶体变体。计算机模拟方法提供了可靠的信息，有助于衍射仪的设计和实验。

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粉末衍射图样中独立反射的数目

W.I.F.大卫

粉末衍射图样中的独立反射数由Pawley分析获得的积分强度协方差矩阵的特征值导出。

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重原子或反常散射子结构测定的差分结构因子归一化

R.H.祝福和G.D.史密斯

描述了用于概率直接法相位调整的单导数同构替换和单波长异常散射差异幅度数据的制备过程。

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线和平面晶格缺陷引起的X射线衍射谱线各向异性展宽的傅里叶模拟

P.斯卡迪和Leoni先生

在传统的Rietveld算法中，引入了一种由于线性和平面晶格缺陷影响而导致的线轮廓加宽的新模型，用于粉末数据的结构细化和整体模式拟合。本文介绍了面心立方结构的理论和应用实例。

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用最大熵算法解面积检测器二维点扩散函数

H.格拉夫斯马和R.Y.de Vries先生

采用最大熵算法对二维面积检测器的点扩散函数进行反褶积。这将导致显著的图像增强。

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未受扰动和快速加热单晶飞秒X射线衍射的模拟

J.S.沃克和R.W.李

模拟了结构在类似时间尺度上发生改变的晶体对X射线飞秒脉冲的动态衍射。这种模拟与同步加速器或激光源的X射线短脉冲从快速激光加热的晶体衍射的实验有关。

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α-和β-氮化硅的定量相分析。一、误差估计

H.托拉亚

α-和β-氮化硅（Si）定量相分析（QPA）中的误差_三N个₄)利用平均归一化强度法和Rietveld方法进行了理论和实验估计。

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α-和β-氮化硅的定量相分析。二、。循环赛

H.托拉亚,S.Hayashi公司和T.Nakayasu公司

作为建立表征先进陶瓷材料的标准方法的项目之一，进行了两次使用平均归一化强度法和Rietveld法的氮化硅定量相分析循环。

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用于X射线衍射轮廓拟合的高斯-厄米多项式函数

F.Sánchez-Bajo和F.L.坎布雷拉

本文基于高斯函数和厄米多项式级数展开，提出了一种新的峰值形状函数，用于模拟X射线粉末衍射轮廓。

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单晶衬底上沉积薄膜的ω扫描重叠问题

D.Machajdík,A.佩瓦拉,A.罗索娃,K.Fröhlich先生,J.Šouc先生,F.维斯和A.图形

对X射线衍射ω扫描中极窄重叠极大值的性质进行了实验研究。

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三轴光谱仪的二阶中子光学。一、准弹性散射

A.D.斯托伊卡,波波维奇和W.B.Yelon（W.B.耶伦）

推导并实验验证了弯晶三轴光谱仪中的二阶像差。通过控制二阶效应，分辨率得到了显著提高。

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假二元截面AlN–Al的φ′-和δ-AlON尖晶石相的高分辨透射电镜研究₂O（运行）_三

P.表格,C.仆人和M.Guymont先生

高分辨率电子显微镜观察支持先前提出的φ′-和δ-AlON尖晶石相的结构模型，该模型允许对阴离子和阳离子的组成和位移进行双重调制。

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钠的结构对位-羟基苯甲酸钠₂C–C₆H（H）₄粉末衍射OH：各向异性峰宽唯象模型的应用

R.E.Dinnebier公司,R.冯·德雷勒,P.W.斯蒂芬斯,S.杰洛内克和J.席勒

钠的结构对位-羟基苯甲酸盐已被溶解从头算高分辨率X射线粉末衍射；粉末数据的质量允许检测连接到酚酸盐的H原子的位置。样品显示出极端的各向异性峰展宽，可以用最近开发的函数进行令人满意的建模。

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多晶材料近表面区域多轴残余应力场的自洽X射线衍射分析方法。一、理论概念

C.根泽尔

导出了X射线应力分析中一种新形式的理论背景。它允许根据应变数据对多晶材料近表面区域的陡峭多轴残余应力梯度进行自洽评估，应变数据是在XSA的散射矢量模式下测量的。

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多晶材料近表面区域多轴残余应力场的自洽X射线衍射分析方法。二、。示例

C.根泽尔,M.布罗达,D.丹茨和W.雷默斯

一种新发展的分析多晶材料近表面区域陡峭残余应力梯度的理论应用于几个实际案例。它产生了面内应力σ₁₁（τ）和σ₂₂（τ），无应变晶格间距，d日₀(香港特别行政区)以及，对于明显的格距深度剖面，即使是平面外应力σ₃₃（τ）以一种自我协调的方式。

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根据菊池图案自动确定方位

A.莫拉威克

讨论了菊池图案自动晶体取向测定的形式方面。研究了自动获得结果的可靠性及其对实验误差的敏感性。

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实验室X射线粉末衍射：不同几何形状的比较，特别注意铜的使用K（K）α偶极子

M.Oetzel先生和G.黑格

它显示了如何使用K（K）α双重影响评估程序，如剥离、单线分析和Rietveld细化。此外，还详细描述了粉末衍射仪不同几何布局的线型行为。

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进行X射线粉末衍射定量分析就地高温下应用于陶瓷颜料中NiO的测定

A.F.瓜蒂埃里,E.马祖卡托,P.文丘里,A.维亚尼,P.赞尼尼和L.佩特拉斯

这是应用就地高温定量相分析。介绍了氧化镍在陶瓷颜料中的应用。

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开放式氦低温恒温器在高分子低温结晶学中的应用

B.L.汉森,A.马丁,J.M.竖琴,D.A.Parrish博士,C.G.邦克,K.Kirschbaum公司,A.A.平克顿和G.J.邦克

托莱多大学（University of Toledo）开发的氦低温恒温器已被用于闪速冷却，并从溶菌酶和肌红蛋白晶体中收集数据，包括大到足以进行中子衍射的闪速冷却晶体。该装置的液-氦消耗量足够低，可以从单个氦罐上的晶体中获取完整的衍射数据，并应扩大氦温度数据收集机会。

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佩宾斯基的机器：基于图形的交互式傅里叶综合程序，在教学和研究中应用

N.M.Glykos公司

已经开发了一个计算机程序，它既可以作为教学工具来说明傅里叶级数在结晶学中的原理和应用，也可以作为研究工具来系统计算所有中心对称平面群的置换综合。

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一种改进的高温单晶X射线衍射角度测量头

P.德拉鲁和M.詹宁

设计了一种可靠且价格低廉的测角头，并在973K温度下对其进行了高温测试_0.88卢比_0.12TiOPO公司₄水晶。

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数据处理程序9：基于学习文件方法新扩展的数据处理程序

E.加德卡

使用基于扩展学习轮廓的计算机建模来细化计算的净强度。用户可以从三个可用的学习文件模型中选择，以获得名称hkl文件，用于晶体结构测定或查看测量轮廓及其模型的强度图。

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直接加工α-Al的X射线衍射高温炉₂O（运行）_三陶瓷零件

M.埃斯特曼,H.雷夫勒,W.斯特勒,F.过滤器,P.Kocher先生和L.J.高克勒

介绍了一种在环境温度和1500K之间工作的高温炉，用于在Mar345成像板探测器系统上自动采集X射线衍射数据。复杂的陶瓷零件由预烧α-Al制成₂O（运行）_三预压实。

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WinGX公司小分子单晶晶体学套件

L.J.Farrugia律师事务所

WinGX公司是一套用于处理、求解、优化和发布单晶衍射数据的Microsoft Windows™程序。

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粉末X：基于Windows-95的粉末X射线衍射数据处理程序

C.董

基于Windows-95的粉末X射线衍射数据处理程序，粉末X，显示。

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讨论，扩散散射和缺陷结构模拟程序-更新

Th.Proffen先生和R.B.内德

程序的更新讨论对漫散射和缺陷结构进行了模拟。

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XFPA公司98：自动结构确定和自动细化程序

F.帕维尔西克

XFPA98型是一种用于直接Patterson解和初步细化晶体结构的通用工具。

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