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应用
结晶学
国际标准编号:1600-5767

1996年2月发行

突出显示的插图

封面插图:中子散射模式(香港0)520 K下alpha-AgI的倒数晶格平面。所示部分从0延伸至5.4倒数晶格单元小时k个由D.A.Keen、V.M.Nield和R.L.McGreevy提供。

国际结晶学联合会


J.应用。克里斯特。(1996).29,1-6
doi:10.1107/S0021889896099645

研究论文


J.应用。克里斯特。(1996).29,7月15日
doi:10.1107/S0021889895008338
链接到html
将一种分析实空间分布形成的逆散射问题的新方法与间接变换法进行了比较。

J.应用。克里斯特。(1996).29,16-23
doi:10.1107/S0021889895008478
链接到html
讨论了不同积分方法在相干畴尺寸和晶格应变方面的系统差异。

J.应用。克里斯特。(1996).29,24-28
doi:10.1107/S0021889895008764
链接到html
提出了一种新的坐标网,即线性坐标网,并用计算机绘制,用于快速、直接地索引Laue图案和确定晶体取向。

J.应用。克里斯特。(1996).29,29-36
doi:10.1107/S0021889895008776
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针对SAXS和SANS实验,提出了一种新的计算散射粒子尺寸分布的递推数值校正方法。

J.应用。克里斯特。(1996).29,37-41
doi:10.1107/S002188989500879X
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Sr系列的X射线粉末衍射表征2LnTaCu公司2O(运行)8,Ln=Nd,Sm,Eu,Gd。锶的晶体结构2钐钽铜2O(运行)8已根据实验室X射线粉末数据进行了改进。

J.应用。克里斯特。(1996).29,42-47
doi:10.1107/S0021889895008818
链接到html
2SO公司4用差示扫描量热法和X射线粉末衍射法进行了重新研究。第二阶段的结构已经确定。

J.应用。克里斯特。(1996).29,48-52
doi:10.1107/S0021889895008946
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描述了使用基于在样品倾斜处测量的经验函数和强度的纹理校正来对强纹理样品进行结构细化。

J.应用。克里斯特。(1996).29,53-60
doi:10.1107/S0021889895007709
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一种回收低硫的方法-散射强度数据也表明,距离分布函数中不需要的特征为散射强度函数中的错误提供了线索。

J.应用。克里斯特。(1996).29,61-70
doi:10.1107/S0021889895010375
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采用中子飞行时间法与小散射角双布拉格反射详细分析相结合的新技术,对Pb、Cu和Al单晶在室温下的亚晶粒结构及其在机械载荷下的演化进行了无损研究。

计算机程序


J.应用。克里斯特。(1996).29,71-80
doi:10.1107/S0021889895005656
链接到html
本文提出了一种在2θ、ω和φ空间中快速搜索和定心衍射峰的计算机程序。它是处理高空定向移动问题的必备软件-P-T公司金刚石膜盒单晶衍射研究。
遵循J.Appl。克里斯特。
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