（IUCr）应用晶体学杂志第25卷第3部分，1992年6月

J.应用。克里斯特。(1992).25,331-335
doi:10.1107/S0021889891011433

晶体粉末衍射仪中的线位移

波波维奇和A.D.斯托伊卡

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聚类分析在X射线衍射物相分析中的应用

B.廖和J.陈

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能量分辨率为54meV的X射线光谱仪

W.霍夫曼,J.卡卢斯和U.Schmelzer公司

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利用成像板作为探测器的大单元晶体高速数据采集系统

佐藤先生,山本先生,K.伊马达,Y.Katsube公司,N.田中和T.东

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吸收对缺陷单晶积分反射率的影响

P.D.莫兰和R.J.马蒂

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异质外延层Renninger扫描的模拟

C.A.B.Salles da Costa公司,L.P.卡多佐,V.L.Mazzocchi公司和C.B.R.父母

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从四圆衍射仪上测量的反射小位移精确确定应变张量

H.格拉夫斯马

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X射线干涉法角度测量

D.温迪什和P.贝克尔

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应用于应力分析的X射线衍射几何误差源的控制

F.转换和B.米格

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模拟无序晶体漫射散射的计算：与光学变换的比较

B.D.巴特勒和T.R.Welberry公司

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Fe-3%Si颗粒衍射和电子衍射的纹理再结晶初级和特殊接头

T.鲍丁,P.佩拉德和R.佩内尔

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根据气相电子衍射数据“黑度校正”的最小二乘法测定感光乳剂的表观响应

S.冈德森,T.G.钢绞线和H.V.沃尔登

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X射线波荡器120 ps曝光记录的劳厄衍射图样的定量分析

D.M.E.Szebenyi博士,D.H.Bilderback先生,A.勒格兰,K.莫法特,W.席尔德坎普,B.史密斯寺和T.滕

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用多晶体Bragg-case衍射仪精确测量硅片晶格参数的X射线相对值。实验的计算机模拟

F.Cembali公司,R.法布里,M.Servidori先生,A.扎尼,G.巴西尔,G.卡瓦涅罗,A.贝加明和G.佐西

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150keV同步辐射用弯晶单色仪

P.苏尔蒂,D.查普曼,J.R.施耐德和T.Tschentscher先生

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入射参数的一阶近似对异质外延结构对称和非对称X射线摇摆曲线模拟的影响。勘误表

M.Servidori先生,F.Cembali公司,R.法布里和A.扎尼

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δ几何劳厄衍射仪

J.兰格和H.伯兹拉夫

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第四：一个帮助教授傅里叶合成元素和其他晶体学概念的程序

T.R.Welberry公司和K.欧文

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MRIA公司-粉末多相中子衍射飞行时间（直接和傅里叶）谱的全剖面分析程序

V.B.兹洛卡佐夫和V.V.切尔尼舍夫

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精确X射线分析的软件和方法

V.V.切尔尼舍夫,G.V.费蒂索夫,A.V.Laktionov公司,V.T.马尔可夫,A.P.内斯特伦科和S.G.朱可夫

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DIFRAC公司，单晶衍射仪输出转换软件

H.D.Flack公司,E.布兰科和D.施瓦岑巴赫

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大规模集成电路-同时细化材料组织和微观结构的计算机程序

卢特罗蒂,P.斯卡迪和P.梅斯特雷利

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结晶仪

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高分辨率透射电子显微镜由P.Buseck、J.Cowley和L.Eyring编辑

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发行内容

1992年6月发行

研究论文

晶体粉末衍射仪中的线位移

聚类分析在X射线衍射物相分析中的应用

能量分辨率为54meV的X射线光谱仪

利用成像板作为探测器的大单元晶体高速数据采集系统

吸收对缺陷单晶积分反射率的影响

异质外延层Renninger扫描的模拟

从四圆衍射仪上测量的反射小位移精确确定应变张量

X射线干涉法角度测量

应用于应力分析的X射线衍射几何误差源的控制

模拟无序晶体漫射散射的计算：与光学变换的比较

Fe-3%Si颗粒衍射和电子衍射的纹理再结晶初级和特殊接头

根据气相电子衍射数据“黑度校正”的最小二乘法测定感光乳剂的表观响应

X射线波荡器120 ps曝光记录的劳厄衍射图样的定量分析

用多晶体Bragg-case衍射仪精确测量硅片晶格参数的X射线相对值。实验的计算机模拟

150keV同步辐射用弯晶单色仪

短通信

入射参数的一阶近似对异质外延结构对称和非对称X射线摇摆曲线模拟的影响。勘误表

δ几何劳厄衍射仪

计算机程序

第四：一个帮助教授傅里叶合成元素和其他晶体学概念的程序

MRIA公司-粉末多相中子衍射飞行时间（直接和傅里叶）谱的全剖面分析程序

精确X射线分析的软件和方法

DIFRAC公司，单晶衍射仪输出转换软件

大规模集成电路-同时细化材料组织和微观结构的计算机程序

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