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应用
结晶学

第24卷| 第1部分

国际标准编号：1600-5767

1991年2月发行

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研究论文

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在具有局部相关性的Rietveld细化中获得的E.s.d.和估计可能误差

杰弗·贝拉尔和P.莱兰

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用双通道X射线驻波法定位石榴石晶体中的杂质原子

E.Kh.Mukhamedzhanov,A.V.马斯洛夫,伊玛莫夫,A.A.Bzhaumikhov先生,E.A.费多罗夫和S.A.科布扎列娃

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全多相轮廓细化粉末定量XRD分析中的吸收对比效应

J.C.泰勒和C.E.马图利斯

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漫射衍射图样中的相位比及其对实际空间结构的影响

T.R.Welberry公司和R.L.威瑟斯

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用于反常散射的高分辨率小角度X射线散射相机

G.G.长,P.R.杰米安,J.R.威特曼,D.R.黑色,H.E.Burdette先生和R.Spal公司

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电子背散射Kikuchi衍射图样中Friedel定律的破裂研究：在锌蓝结构中的应用

K.Z.Baba-Kishi先生

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同步辐射X射线在脂质模型膜体系相变研究中的应用

L.J.利斯和P.J.奎因

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短通信

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多模高角度分辨率粉末衍射仪

M.Kurahashi先生,K.本田,M.后藤,Y.伊纳里和C.片山

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绝对结构：你的衍射仪是右手的吗？

Y.Le页面和E.J.加布

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计算机程序

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区域探测器X射线衍射数据可视化软件

D.H.Ohlendorf博士

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非公度晶体结构的约束细化及结果分析

W.A.Paciorek公司,G.马达里亚加和F.J.祖尼加

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POWABS公司粉末衍射图样反射条件自动测定的计算机程序

P.G.Byrom公司和B.W.卢卡斯

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实验室札记

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一种用于X射线粉末照片的简易密度计

N.J.Calos公司和C.H.L.肯纳德

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使用Hewlett-Packard ScanJet图像数字化仪作为X射线粉末照片密度计

N.J.Calos公司和C.H.L.肯纳德

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快速通信

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激光辐射对非线性光学铁电晶体X射线衍射的影响

S.G.朱可夫,G.V.费蒂索夫和L.A.阿斯拉诺夫

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晶体学家

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结晶仪

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新的商业产品

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