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应用
结晶学

第23卷| 第4部分

国际标准编号：1600-5767

1990年8月发行

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研究论文

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从晶体对称性生成多重蕴涵函数对称性的一种方法

F.帕维尔奇克

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半导体异质结构在全外反射边缘附近的极端不对称X射线布拉格反射

H.-G.布吕尔,T.鲍姆巴赫,V.Gottschalch公司,U.Pietsch公司和B.伦格勒

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影响面积检测器数据再现性的因素

J.P.罗斯和B.C.王

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用三针孔准直系统减少小角度X射线散射中的寄生散射

G.D.威格纳尔,J.S.林和S.勺子

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通过Rietveld方法同时细化结构和尺寸-应变

卢特罗蒂和P.斯卡迪

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振动图像的自诱导

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使用新型高压釜的水热合成的时间分辨中子衍射分析

E.波拉克,J.Munn先生,P.巴恩斯,S.E.柏油和C.里特

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球霰石的一种新晶体生长形式CaCO_三

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Cu–15wt%Ni–8wt%Sn分解早期的反常小角度X射线散射研究

Goudeau博士,A.诺顿和J.-M.韦尔特

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HTMA晶体铁电-铁弹转变时的铁弹畴研究

M.里贝特,圣莱昂,F.Lefaucheux公司和M.C.罗伯特

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用标准物质最小二乘法测定样品单位-细胞参数的同时峰移校正

H.托拉亚和北村先生

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同步辐射法测定粉末的晶格参数

M.哈特,R.J.塞尼克,W.帕里什和H.托拉亚

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带闭环编码器反馈系统的同步辐射双圆粉末衍射仪

R.J.塞尼克,P.K.穆雷,P.帕蒂森和A.N.惠誉

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一种自动化的微量蛋白结晶和筛选系统

N.E.Chayen公司,P.D.肖·斯图尔特,D.L.梅德和D.M.吹气

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含对称相关散射点无序系统的光学变换

T.R.Welberry公司和R.L.威瑟斯

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用于透射衍射的定量X射线粉末衍射分析

B.L.戴维斯和M.N.斯皮尔德

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小角度散射分辨率函数的分析处理

J.S.佩德森,D.波塞尔特和K.莫滕森

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带成像板的衍射数据自动采集系统

I.田中,姚明（M.Yao）,铃木先生,K.Hikichi公司,松本T,M.科扎萨和C.片山

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短通信

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In的低温X射线衍射检验₂硒_三

B.格里塔,S.Popović,N.科兰和B.乔埃卢斯特卡

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一种方便的转换函数参数化

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计算机程序

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用蒙特卡罗模拟计算小角度散射剖面

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德克萨斯凸轮–圆柱形纹理相机X射线衍射图案的判读辅助工具

K·D·罗杰斯

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晶体学家

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结晶仪

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新的商业产品

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