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应用
结晶学

第18卷| 第4部分

国际标准编号：1600-5767

1985年8月号

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研究论文

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斜织构电子衍射强度分布的计算

A.平面图,S.I.Tsipurski公司和V.A.滴水

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金红石的电子光学研究

R.C.溪和A.E.C.斯巴戈

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小角度X射线散射数据的粒度分布

G.沃尔特,R.Kranold公司,T.Gerber公司,J.巴尔德里安和M.斯坦哈特

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LASIP公司：液体和非晶态结构研究包

P.勒坎特,A.莫塞特和J.盖利

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三组分非晶样品的散射强度、角度和界面值的参数化

西卡列洛和A.贝内德蒂

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中子小角散射和反常X射线散射中同位素替代评估三元合金部分结构函数的优点比较

J.P.西蒙,O.里昂和D.de Fontaine先生

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α-LiIO的结构手性和光学活性_三

K.斯塔德尼卡,A.M.格雷泽和J.R.L.莫克森

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模型分辨率函数——一种通过小角度X射线或中子散射中的模型估计粒子近似质量的技术

J.J.米勒,G.达马肖恩和P.W.施密特

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傅里叶衍射分析

B.波尼克尔和J.费龙

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与旋转摄像机有关的一些几何问题。一、X射线衍射图样生成

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计算机程序

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斯特鲁普洛84，一个用于多面体表示晶体结构图解的Fortran绘图程序

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计算机程序摘要

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XTAL公司晶体计算程序系统

J.M.斯图尔特和S.R.霍尔

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GENEV公司,生长素,绅士：在XTAL公司系统

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晶体学家

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结晶仪

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书评

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工业结晶由Grootscholten JančićP.A.M.编辑。

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工业结晶84由S.J.Jančić和E.J.de Jong编辑

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材料科学的当前主题。第10卷编辑：E.Kaldis

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