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应用
结晶学

第2卷| 第6部分

国际标准编号：1600-5767

1969年12月号

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研究论文

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用“常数参数”法识别晶体系统

G.V.达维多夫和V.M.哈林

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铁的强度分布和变化K（K）α多重态

H.J.爱德华兹和K.托曼

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晶格参数测定的键合法中的错误——进一步考虑

J.伯克和M.V.Tomkeieff先生

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碳化钨的塑性变形

D.刘易斯和L.J.波特

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钙的晶体结构_三TeO公司₆和钙_三工单₆

J.A.巴格里奥和S.Natansohn公司

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电子显微镜强度和能量的电子测量

G.R.布拉德伯里

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自动记录极形数据的阴极射线管显示

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Berg–Barrett X射线衍射显微镜对结构域结构的定量研究。二、。域的标识

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镍镉系统的富镍部分

H.J.戈德施密特和M.J.沃克

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ZrO的轴向热膨胀₂和HfO₂在室温至1400°C的范围内

R.N.帕蒂尔和E.C.Subbarao公司

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Bonse–Hart小角度X射线衍射仪中的狭缝涂抹效应

C.C.Gravatt公司和G.W.布雷迪

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SbSn菱形角的测定方法

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利用小角度X射线散射数据确定长圆柱体电子密度的Hankel变换方法的试验

R.D.卡尔森和P.W.施密特

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短通信

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U的晶格参数和X射线粉末图案₂C类_三

J.F.A.亨内克和C.J.杜桑

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晶体数据

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二硅酸铕的两种多晶型Eu的晶体数据₂硅₂O（运行）₇

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（NH）结晶₄)_三SiF公司₆不_三

G.H.麦克莱伦,K.R.Waerstad公司和A.W.弗雷泽

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一水四偏磷酸三铵的X射线数据

K.R.Waerstad公司,G.H.麦克莱伦,A.W.弗雷泽和R.C.谢里丹

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实验室札记

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提高Picker X射线衍射仪的通用性

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用于宝丽来XR-7暗盒的平膜Weissenberg附件

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书评

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液晶。1965年8月16日至20日，肯特州立大学液晶国际会议记录由G.H.Brown、G.J.Dienes和M.M.Labes编辑

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美国地质与自然科学月刊G.W.Featherstonhaugh编辑

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固体的光学特性由S.Nudelmann和S.S.Mitra编辑

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笔记和新闻

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笔记和新闻

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国际结晶学联合会

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结晶仪器委员会

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新闻和工作

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