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应用
结晶学

第2卷| 第2部分

国际标准编号：1600-5767

1969年6月发行

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研究论文

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碳化硅多型体的修正X射线衍射线强度

A.L.汉南和P.T.B.谢弗

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Quantitive Zourdnung von röntgenographisch und mittels chemischer sta tzgruben erfassent Versetzungen bei einer Siliziumprobe公司

M.伦宁格和W.泰斯

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折射X par les trichites de cuivre

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计算粒子尾迹在扩散中心X的分布的新方向

H.布鲁塞特和J.R.多纳蒂

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核和磁结构的轮廓细化方法

H.M.Rietveld先生

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从衍射轮廓尾部确定畴尺寸的X射线方法

I.S.Szántó和L.瓦尔加

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自动极图评估

A.塞穆勒和J.安吉列洛

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短通信

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一组用于双晶形貌的参考晶体

R.D.Deslattes公司和B.帕雷茨金

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使用经过修改的用于IBM 360 O/S的计算机程序进行晶体学索引

H.J.荷兰和J.A.加思罗普

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钯对银基合金层错密度影响的X射线研究

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对线性化分析方法的几点评论

R.L.罗斯曼和J.B.科恩

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钇和钆铁、镓和铝石榴石的热膨胀

S.盖勒,G.P.埃斯皮诺萨和P.B.克兰德尔

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实验室札记

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结晶学实用实验；三维模型的构建

L.布雷瑟顿和C.H.L.肯纳德

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新闻和工作

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