作者
摘要
我们考虑两个强耦合谐振子(TSCHO)在热非平衡条件(TNEC)下暴露在玻色浴中。为了解释TNEC,我们使用了Tsallis统计数据。为了获得系统的时间演化,我们使用了Liouville-von Neumann主方程。我们发现形成纠缠(EOF)的q依赖性给出了EOFq<1≤EOFq=1≤EOFq>1。分析了两个振荡器之间的压缩和耦合对EOF的影响。我们应用我们的方法来获得TNEC中暴露于环境中的SWAP和CONT门的输出。我们发现,对于不同的q区域,压缩和跳跃系数会影响CNOT门操作后的纠缠量及其死亡斜率。
建议引用
Lari,B.&Chung,W.S.&Hassanabadi,H.,2024年。"热非平衡条件下基于两个强耦合谐振子的量子门,"物理学A:统计力学及其应用爱思唯尔,第637(C)卷。手柄:RePEc:eee:phsmap:v:637:y:2024:i:c:s0378437124000694
DOI:10.1016/j.physa.2024.129561
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