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存在多因素误差结构的面板单位根测试

作者

已列出：
  • 佩萨兰，M.哈希姆
  • 凡妮莎·史密斯。
  • 山形，高石

摘要

本文将Pesaran（2007）提出的截面增广面板单位根检验（CIPS）推广到多因素误差结构的情况，并基于截面增广Sargan–Bhargava统计（CSB）的简单平均值提出了一种新的面板单位根测试。其基本思想是利用关于m个未观测到的因素的信息，这些信息由k个观测到的时间序列以及所考虑的序列共享。最初，我们假设已知因子的真实数量m0，进行测试，并表明只要k≥m0−1，测试的极限分布不依赖于任何干扰参数。用蒙特卡罗实验研究了试验的小样本特性，结果令人满意。特别是，对于所考虑的横截面（N）和时间序列（T）维度的所有组合，建议的CIPS和CSB测试具有正确的大小。尽管CSB测试比CIPS测试在较小样本量下表现更好，但这两种测试的威力都随着N和T的增加而增加。通过各国实际利率和实际股票价格的实证应用，说明了各种测试程序。

建议引文

  • Pesaran，M.Hashem和Vanessa Smith，L.&Yamagata，Takashi，2013年。”存在多因素误差结构的面板单位根测试,"计量经济学杂志爱思唯尔，第175（2）卷，第94-115页。
    • 手柄：RePEc:eee:econom:v:175:年：2013年：i：2：p：94-115
    DOI:10.1016/j.jeconom.2013.02.001
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    • C23型-数学与定量方法——单方程模型；单变量面板数据模型；时空模型

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