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计数数据的计量经济模型及其在专利与研发关系中的应用

作者

上市的:
  • 杰里·豪斯曼
  • 霍尔,Bronwyn H
  • 兹维·格里奇斯

摘要

本文着重于在面板数据的背景下开发和调整计数统计模型(非负整数),并使用它们分析专利与研发支出之间的关系。所用模型是泊松分布的应用和推广,以考虑自变量;持久的个体(固定或随机)效应,以及泊松概率函数中的“噪声”或随机性。我们将我们的模型应用于Pakes和Griliches之前分析的数据集,使用了七年(1968-74年)对128家公司的观察结果。我们的统计结果清楚地表明,为了使数据合理化,我们既需要在条件内维度中进行扰动,也需要在边际(中间)维度中进行不同方差的扰动。添加公司特定变量、日志价值和科学行业虚拟数据,可以消除单个公司专利倾向与其研发强度之间的大部分正相关关系。另一项新发现是,专利与研发关系中存在一种互动的负面趋势,即企业从最近的研发投资中获得的专利越来越少,这意味着研发的“效率”或生产率下降。
(此摘要是从该项目的另一个版本中借来的。)

建议引用

  • 杰里·豪斯曼(Jerry Hausman)和霍尔(Hall),布朗温·H&格里希斯(Bronwyn H&Griliches),兹维(Zvi),1984年。"计数数据的计量经济模型及其在专利与研发关系中的应用,"计量经济学《计量经济学协会》,第52卷(4),第909-938页,7月。
  • 手柄:RePEc:ecm:emetrp:v:52:y:1984:i:4:p:909-38版本
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