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高斯随机游走生成的最小二乘回归残差检验

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上市的:
  • 约翰·丹尼斯·萨根
  • 阿洛克·巴加瓦

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  • 约翰·丹尼斯·萨根(John Denis Sargan)和巴加瓦(Bhargava),阿洛克(Alok),1983年。"高斯随机游走生成的最小二乘回归残差检验,"计量经济学《计量经济学协会》,第51卷(1),第153-174页,1月。
  • 手柄:RePEc:ecm:emetrp:v:51:y:1983:i:1:p:153-74
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