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专利质量与研究生产率:用多指标衡量创新

作者

上市的:
  • 让·奥·兰茹
  • 马克·尚克曼

摘要

我们使用1980-93年美国制造业公司的面板数据分析了研究生产率下降的决定因素。我们关注三个因素:需求水平、专利质量和技术枯竭。我们使用详细的专利信息制定了一个专利“质量”指数,并表明使用多个指标大大减少了质量的测量方差。理论预测,企业层面的研究生产率与专利质量和需求水平呈负相关,专利质量与企业的股票市场价值呈正相关。版权所有2004皇家经济学会。

建议引用

  • Jean O.Lanjouw和Mark Schankerman,2004年。"专利质量与研究生产率:用多指标衡量创新,"经济杂志《皇家经济学会》,第114卷(495),第441-465页,4月。
  • 手柄:RePEc:ecj:econjl:v:114:y:2004:i:495:p:441-465
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