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关于曲面参数化满射性的一些结果
查看使用指标
作者
Sendra Pons,胡安·拉斐尔
;
大卫·塞维利亚
;
卡洛斯·维拉里诺·卡贝洛斯
标识符
永久链接(URI):
http://hdl.handle.net/1017/29590
内政部:
1997年10月10日/978-3-319--15081-9_11
国际标准编号:0943-853X
出版商
施普林格
日期
2015
附属
阿尔卡拉大学。
费西卡省
资助者
Innovación省
书目引用
计算机代数和
《多项式》,2015年,第8942卷,第192-203页
关键词
有理代数曲面
正常(Normality)
划线表面
基点
项目
信息:eu-repo/grantAgreement/MICINN//MTM2011-25816-C02-01/ES/ALGORITMOS Y APLICACIONES EN GEOMETRIA DE CURVAS Y SURFICIES/
文档类型
信息:eu-repo/stemantics/article
版本
信息:eu-repo/stemantics/publishedVersion
出版商版本
http://dx.doi.org/10.1007/978-3-319-15081-9_11
权利
归属-非商业性非衍生产品4.0国际(CC BY-NC-ND 4.0)
(c) 施普林格,2015
访问权限
信息:eu-repo/stemantics/openAccess
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摘要
本文研究有理曲面参数化的满射性的判定问题。
我们给出了参数化是满射的充分条件,并描述了满足这些条件的不同参数化族。此外,我们考虑了计算参数化未覆盖点的超集的问题。
在此背景下,我们报告了无投影基点的参数化情况,并分析了有理直纹曲面的特殊情况。
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