关键词: Hadoop、， 高分辨率图像, 缺陷检测, MapReduce

摘要：在生产第六代TFT-LCD的过程中会产生各种类型的缺陷。通过使用一台机器检查缺陷，存在存储资源和计算时间的瓶颈。Hadoop集群是一种处理海量高分辨率LCD图像的新方法，在计算和存储容量方面具有优势。由于缺陷是高分辨率LCD图像的局部特征，本文提出了一种基于MapReduce框架的分布式缺陷检测方法。为了解决高分辨率图像在缺陷检测中效率低的问题，该方法可以简单描述如下。首先，将高分辨率图像分割为多个小分割，并在接下来的步骤中对其进行平行检查。在最后一步中，对中间结果进行聚合以获得最终结果。实验结果表明，该方法可以在Hadoop集群上同时检测缺陷，具有良好的加速率。

关键词： Hadoop、， 高分辨率图像， 缺陷检查， MapReduce